Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60191-6-6-2001 Mechanical Standardization of Semiconductor Devices - Part 6-6: General Rules for the Preparation of Outline Drawings of Surface Mounted Semiconductor Device Packages - Design Guide for Fine Pitch Land Grid Array (FLGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-6: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств – Руководство по проектированию корпусов с мелким шагом сетки контактов (FLGA)

Название документа
IEC 60191-6-6-2001 Mechanical Standardization of Semiconductor Devices - Part 6-6: General Rules for the Preparation of Outline Drawings of Surface Mounted Semiconductor Device Packages - Design Guide for Fine Pitch Land Grid Array (FLGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-6: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств – Руководство по проектированию корпусов с мелким шагом сетки контактов (FLGA)
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60191-6-6-2001» представляет собой международный стандарт, касающийся механической стандартизации полупроводниковых устройств. Он предназначен для установления общих правил подготовки чертежей для упаковок полупроводниковых устройств, которые монтируются на поверхность. В частности, данный раздел документа описывает проектирование упаковок для Fine Pitch Land Grid Array (FLGA), обеспечивая производителям и разработчикам четкие рекомендации по созданию эффективных чертежей.

Основные регламентируемые аспекты документа включают методы и параметры, необходимые для обеспечения совместимости упаковок, а также требования к правильному нанесению и размеру площадок. Стандарт описывает процедуры подготовки чертежей, включая визуализацию деталей упаковки и указания по техническому исполнению, чтобы гарантировать высокое качество и надежность изделий. Важное внимание уделяется точности размеров и указаниям по отступам, что имеет критическое значение для механической совместимости в сборке.

Стандарт также включает важные технические детали, такие как условия испытаний, требуемые для проверки соответствия упаковок заданным параметрам. Описание классификаций упакованных устройств и измеряемых величин позволяет производителям эффективно контролировать качество своей продукции на всех этапах производства. При этом документ уделяет внимание необходимости выполнения указанных стандартов для предотвращения возможных дефектов и обеспечения устойчивости продукции к механическим воздействиям.

Целевая аудитория данного стандарта охватывает производителей полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, обеспечивающие соблюдение качественных и безопасных норм. Стандарт служит руководством для всех участников процесса разработки и производства, способствуя унификации и стандартизации подходов на мировом уровне. Он имеет непосредственное значение для обеспечения безопасности и качества продукции, а также для повышения уровня охраны труда и совместимости изделий.

Изменения или дополнения в документе, если таковые имеются, касаются уточнения требований к размерам и формам площадок, а также уточнения методов испытаний, обеспечивающих согласованность индикации характеристик. Все эти аспекты делают стандарт важным инструментом для обеспечения высшего уровня качества упаковок полупроводниковых устройств и снижения рисков, связанных с несанкционированным использованием элементов.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60191-6-5-2001 Mechanical Standardization of Semiconductor Devices - Part 6-5: General Rules for the Preparation of Outline Drawings of Surface Mounted Semiconductor Device Packages - Design Guide for Fine Pitch-Pitch Ball Grid Array (FBGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-5: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств – Руководство по проектированию корпусов с мелким шагом сетки контактов (FBGA) PDF IEC 60191-6-4-2003 Mechanical standardization of semiconductor devices Part 6-4: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages Measuring methods for package dimensions of ball grid array (BGA) - Механическая стандартизация полупроводниковых устройств Часть 6-4: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств Методы измерения размеров корпусов с сеткой контактов (BGA) – PDF IEC 60191-6-3-2000 Mechanical Standardization of Semiconductor Devices - Part 6-3: General Rules for the Preparation of Outline Drawings of Surface Mounted Semiconductor Device Packages - Measuring Methods for Package Dimensions of Quad Flat Packs (QFP) - Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-3: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств – Методы измерения размеров корпусов квадратных плоских корпусов (QFP) – PDF IEC 60191-6-8-2001 Mechanical Standardization of Semiconductor Devices - Part 6-8: General Rules for the Preparation of Outline Drawings of Surface Mounted Semiconductor Device Packages - Design Guide for Glass Sealed Ceramic Quad Flatpack (G-QFP) - Editi Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-8: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств – Руководство по проектированию корпусов с закрытым стеклом керамического квадратного плоского корпуса (G-QFP) – Редакция PDF IEC 60192-2001 Low-Pressure Sodium Vapour Lamps - Performance Specifications Низкодавленные натриевые паровые лампы – Технические характеристики PDF IEC 60193-2019 Hydraulic turbines, storage pumps and pump-turbines – Model acceptance tests Гидравлические турбины, насосы-аккумуляторы и насосно-турбинные установки – Проверка моделей на принятие