Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60191-6-5-2001 Mechanical Standardization of Semiconductor Devices - Part 6-5: General Rules for the Preparation of Outline Drawings of Surface Mounted Semiconductor Device Packages - Design Guide for Fine Pitch-Pitch Ball Grid Array (FBGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-5: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств – Руководство по проектированию корпусов с мелким шагом сетки контактов (FBGA)

Название документа
IEC 60191-6-5-2001 Mechanical Standardization of Semiconductor Devices - Part 6-5: General Rules for the Preparation of Outline Drawings of Surface Mounted Semiconductor Device Packages - Design Guide for Fine Pitch-Pitch Ball Grid Array (FBGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-5: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств – Руководство по проектированию корпусов с мелким шагом сетки контактов (FBGA)
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60191-6-5-2001» представляет собой стандарт в области механической стандартизации полупроводниковых устройств, подробно описывающий общие правила подготовки контурных чертежей для упаковок с поверхностным монтажом на базе технологии Fine Pitch Ball Grid Array (FBGA). Основное назначение стандарта заключается в унификации подходов к проектированию и документированию таких упаковок, что способствует повышению качества и безопасности продукции на рынке полупроводников.

Важнейшими аспектами, регулируемыми данным стандартом, являются требования к геометрическим параметрам, методам испытаний и оформления чертежей. Стандарт описывает необходимую размерность, точность и методы, используемые при измерениях различных характеристик упаковок FBGA, включая электрические и механические параметры. Эти регламентированные процедуры гарантируют, что проектируемые устройства будут соответствовать установленным международным требованиям.

Технические детали стандарта касаются условий испытаний и классификаций, которые должны соблюдаться для проверки качества и надежности упаковки. В документации приводятся методики, позволяющие определить ключевые измеряемые величины, такие как тепловые характеристики и механическая прочность. Данная информация критически важна для производителей, которые разрабатывают и тестируют полупроводниковые устройства, основываясь на высоких стандартных требованиях.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, лаборатории, занимающиеся тестированием, а также регулирующие органы, ответственные за контроль и оценку качества в данной области. Базируясь на принципах, изложенных в документе, компании могут улучшить процесс разработки и повысить конкурентоспособность своей продукции.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых устройств, что, в свою очередь, способствует улучшению охраны труда и общей совместимости электронных компонентов. Стандарт также может оказать воздействие на процессы сертификации и стандартизации в данную область. В случае наличия изменений или дополнений в документации, они должны рассматриваться как улучшения, направленные на дальнейшее усовершенствование технологии и метода проектирования упаковок FBGA.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60191-6-4-2003 Mechanical standardization of semiconductor devices Part 6-4: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages Measuring methods for package dimensions of ball grid array (BGA) - Механическая стандартизация полупроводниковых устройств Часть 6-4: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств Методы измерения размеров корпусов с сеткой контактов (BGA) – PDF IEC 60191-6-3-2000 Mechanical Standardization of Semiconductor Devices - Part 6-3: General Rules for the Preparation of Outline Drawings of Surface Mounted Semiconductor Device Packages - Measuring Methods for Package Dimensions of Quad Flat Packs (QFP) - Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-3: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств – Методы измерения размеров корпусов квадратных плоских корпусов (QFP) – PDF IEC 60191-6-22-2012 Mechanical standardization of semiconductor devices – Part 6-22: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages – Design guide for semiconductor packages Silicon Fine-pitch Ball G Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-22: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств – Руководство по проектированию корпусов полупроводниковых устройств с мелким шагом сетки контактов (Si Fine-pitch Ball G) PDF IEC 60191-6-6-2001 Mechanical Standardization of Semiconductor Devices - Part 6-6: General Rules for the Preparation of Outline Drawings of Surface Mounted Semiconductor Device Packages - Design Guide for Fine Pitch Land Grid Array (FLGA) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-6: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств – Руководство по проектированию корпусов с мелким шагом сетки контактов (FLGA) PDF IEC 60191-6-8-2001 Mechanical Standardization of Semiconductor Devices - Part 6-8: General Rules for the Preparation of Outline Drawings of Surface Mounted Semiconductor Device Packages - Design Guide for Glass Sealed Ceramic Quad Flatpack (G-QFP) - Editi Механическая стандартизация полупроводниковых устройств – Часть 6-8: Общие правила подготовки чертежей обводов поверхностно установленных корпусов полупроводниковых устройств – Руководство по проектированию корпусов с закрытым стеклом керамического квадратного плоского корпуса (G-QFP) – Редакция PDF IEC 60192-2001 Low-Pressure Sodium Vapour Lamps - Performance Specifications Низкодавленные натриевые паровые лампы – Технические характеристики