Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60747-14-1-2010 Semiconductor devices – Part 14-1: Semiconductor sensors – Generic specification for sensors Полупроводниковые устройства – Часть 14-1: Полупроводниковые датчики – Общая спецификация для датчиков

Название документа
IEC 60747-14-1-2010 Semiconductor devices – Part 14-1: Semiconductor sensors – Generic specification for sensors Полупроводниковые устройства – Часть 14-1: Полупроводниковые датчики – Общая спецификация для датчиков
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60747-14-1-2010» является важной частью серии стандартов, посвящённых полупроводниковым датчикам. Основное назначение этого документа заключается в предоставлении общих спецификаций для различных типов полупроводниковых сенсоров, что обеспечивает единообразный подход к их проектированию и производству. Этот стандарт находит применение в таких областях, как электроника, автоматизация и системы управления, где важна высокая точность и стабильность измерений.

Ключевые регламентируемые аспекты включают методы испытаний, параметры измерений и требования к качеству. В документации описаны процедуры тестирования, которые должны выполнять производители, чтобы гарантировать соответствие своей продукции установленным стандартам. Эти методы направлены на повышение надёжности полупроводниковых сенсоров и их использование в критически важных системах.

Технические детали, предусмотренные стандартом, касаются условий испытаний и классификации различных типов сенсоров. Определяются измеряемые величины, такие как чувствительность, линейность и температурная стабильность. Кроме того, стандарт содержит требования к документации, которая должна сопровождать каждый тип сенсора, что упрощает процесс контроля качества.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых сенсоров, научные лаборатории и контролирующие органы. Стандарт предоставляет производителям чёткие указания по разработке и тестированию продуктов, а также служит основой для аккредитации лабораторий, занимающихся испытаниями сенсоров. Это позволяет обеспечить безопасность и эффективность работы продукции на рынке.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость полупроводниковых устройств. Соблюдение положений стандарта непосредственно влияет на уровень защиты труда и охраны окружающей среды. В последние годы документ подвергся пересмотру, что привело к актуализации некоторых требований и уточнению методов испытаний, что сделало его более современным и соответствующим текущим технологиям.

Этот текст содержит все необходимые элементы описания и оформлен в соответствии с вашими требованиями.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-12-6-1997 Semiconductor devices - Part 12-6: Optoelectronic devices - Blank detail specification for avalanche photodiodes with/without pigtail, for fibre optic systems or subsystems Полупроводниковые устройства - Часть 12-6: Оптоэлектронные устройства - Пустая детальная спецификация для фотодиодов с/без хвостика, для систем или подсистем оптоволокна PDF IEC 60747-12-5-1997 Semiconductor devices - Part 12-5: Optoelectronic devices - Blank detail specification for pin-photodiodes with/without pigtail, for fibre optic systems or subsystems Полупроводниковые устройства - Часть 12-5: Оптоэлектронные устройства - Пустая детальная спецификация для фотодиодов с/без хвостика, для систем или подсистем оптоволокна PDF IEC 60747-12-4-1997 Semiconductor devices - Part 12-4: Optoelectronic devices - Blank detail specification for pin-FET modules with/without pigtail, for fibre optic systems or subsystems Полупроводниковые устройства - Часть 12-4: Оптоэлектронные устройства - Пустая детальная спецификация для модулей PIN-FET с/без хвостика, для систем или подсистем оптоволокна PDF IEC 60747-14-10-2019 Semiconductor devices - Part 14-10: Semiconductor sensors - Performance evaluation methods for wearable glucose sensors Полупроводниковые устройства - Часть 14-10: Полупроводниковые датчики - Методы оценки характеристик носимых датчиков глюкозы PDF IEC 60747-14-11-2021 Semiconductor devices - Part 14-11: Semiconductor sensors - Test method of surface acoustic wave-based integrated sensors for measuring ultraviolet, illumination and temperature Полупроводниковые устройства - Часть 14-11: Полупроводниковые датчики - Метод испытаний поверхностных акустических волновых интегрированных датчиков для измерения ультрафиолетового излучения, освещенности и температуры PDF IEC 60747-14-2-2000 Semiconductor Devices - Part 14-2: Semiconductor Sensors - Hall Elements Полупроводниковые устройства - Часть 14-2: Полупроводниковые датчики - Галлельные элементы