Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
IEC 60747-14-2-2000 Semiconductor Devices - Part 14-2: Semiconductor Sensors - Hall Elements
Документ «IEC 60747-14-2-2000 Semiconductor Devices - Part 14-2: Semiconductor Sensors - Hall Elements» устанавливает международные стандарты для полупроводниковых сенсоров, использующих эффекты Холла. Основное назначение документа заключается в обеспечении согласованности измерений, касающихся данных элементов, и их применения в различных областях, включая электронику и промышленность. Стандарт охватывает широкий диапазон аспектов, таких как методы тестирования, параметры характеристик и требования к конструкции сенсоров, что позволяет гарантировать их надёжность и точность.
Ключевыми аспектами, регламентируемыми данным стандартом, являются условия испытаний и параметры измерения, такие как чувствительность и линейность. Стандарт не только описывает процедуры, необходимые для оценки характеристик сенсоров, но также определяет классификации и допустимые значения для различных типов приложений. При этом документ предоставляет исчерпывающую информацию о методах калибровки, что способствует улучшению показателей изделия на этапе разработки.
Целевая аудитория документа включает производителей полупроводниковых датчиков, лаборатории, проводящие испытания, а также контролирующие органы, ответственные за соблюдение стандартов качества. Он служит важным ресурсом для специалистов, занимающихся разработкой и сертификацией аналитических приборов, учитывая растущие требования к безопасности и эффективному управлению качеством в области полупроводников.
Практическое значение стандарта обусловлено его влиянием на безопасность, качество и совместимость сенсоров в различных приложениях. Соответствие требованиям IEC 60747-14-2 способствует повышению доверия со стороны потребителей и организаций, осуществляющих контроль за соблюдением стандартов. Изменения и дополнения, внесённые в документ, направлены на уточнение требований к новым технологиям, обеспечивая тем самым актуальность регламента в условиях быстрого прогресса в области полупроводниковой электроники.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
IEC 60747-14-11-2021 Semiconductor devices - Part 14-11: Semiconductor sensors - Test method of surface acoustic wave-based integrated sensors for measuring ultraviolet, illumination and temperature
IEC 60747-14-10-2019 Semiconductor devices - Part 14-10: Semiconductor sensors - Performance evaluation methods for wearable glucose sensors
IEC 60747-14-1-2010 Semiconductor devices – Part 14-1: Semiconductor sensors – Generic specification for sensors
IEC 60747-14-3-2009 Semiconductor devices – Part 14-3: Semiconductor sensors – Pressure sensors
IEC 60747-14-4-2011 Semiconductor devices – Discrete devices – Part 14-4: Semiconductor accelerometers
IEC 60747-14-5-2010 Semiconductor devices – Part 14-5: Semiconductor sensors – PN-junction semiconductor temperature sensor