Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60747-14-4-2011 Semiconductor devices – Discrete devices – Part 14-4: Semiconductor accelerometers Полупроводниковые устройства – Дискретные устройства – Часть 14-4: Полупроводниковые акселерометры

Название документа
IEC 60747-14-4-2011 Semiconductor devices – Discrete devices – Part 14-4: Semiconductor accelerometers Полупроводниковые устройства – Дискретные устройства – Часть 14-4: Полупроводниковые акселерометры
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60747-14-4-2011 Semiconductor devices – Discrete devices – Part 14-4: Semiconductor accelerometers» представляет собой стандарт, описывающий требования и методы испытаний полупроводниковых акселерометров. Он предназначен для использования в различных областях, таких как автомобилестроение, авиация и промышленная автоматизация, где высокие показатели производительности и надежности критически важны.

Важнейшие регламентируемые аспекты стандарта включают описания методов измерения параметров акселерометров, таких как чувствительность, диапазон измерений и температурные характеристики. Стандарт также определяет требования к точности и стабильности значений, обеспечивая тем самым надежную работу устройств в различных условиях.

Технические детали, регулируемые документом, затрагивают условия испытаний, включая температурные и механические нагрузки. Классификация акселерометров, измеряемые величины, такие как осевая чувствительность и инерционные характеристики, детализированы для обеспечения единого подхода к оценке их качества и функциональности.

Целевой аудиторией стандарта являются производители полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и тестированием электроники. Это позволяет всем заинтересованным сторонам следовать единым критериям для обеспечения высокого уровня безопасности и качества продукции.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость полупроводниковых акселерометров. Соблюдение этого стандарта способствует улучшению условий труда, снижению рисков эксплуатации и повышению доверия со стороны пользователей. В документе отмечены обновления, касающиеся методов тестирования и новых требований к производственным процессам, что дополнительно усиливает его актуальность в современных условиях.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-14-3-2009 Semiconductor devices – Part 14-3: Semiconductor sensors – Pressure sensors Полупроводниковые устройства – Часть 14-3: Полупроводниковые датчики – Датчики давления PDF IEC 60747-14-2-2000 Semiconductor Devices - Part 14-2: Semiconductor Sensors - Hall Elements Полупроводниковые устройства - Часть 14-2: Полупроводниковые датчики - Галлельные элементы PDF IEC 60747-14-11-2021 Semiconductor devices - Part 14-11: Semiconductor sensors - Test method of surface acoustic wave-based integrated sensors for measuring ultraviolet, illumination and temperature Полупроводниковые устройства - Часть 14-11: Полупроводниковые датчики - Метод испытаний поверхностных акустических волновых интегрированных датчиков для измерения ультрафиолетового излучения, освещенности и температуры PDF IEC 60747-14-5-2010 Semiconductor devices – Part 14-5: Semiconductor sensors – PN-junction semiconductor temperature sensor Полупроводниковые устройства – Часть 14-5: Полупроводниковые датчики – Температурный датчик на p-n-переходе PDF IEC 60747-15-2010 Semiconductor devices – Discrete devices – Part 15: Isolated power semiconductor devices Полупроводниковые устройства – Дискретные устройства – Часть 15: Изолированные полупроводниковые устройства питания PDF IEC 60747-16-1-2017 Semiconductor devices – Part 16-1: Microwave integrated circuits – Amplifiers Полупроводниковые устройства – Часть 16-1: Микроволновые интегральные схемы – Усилители