Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60747-14-5-2010 Semiconductor devices – Part 14-5: Semiconductor sensors – PN-junction semiconductor temperature sensor Полупроводниковые устройства – Часть 14-5: Полупроводниковые датчики – Температурный датчик на p-n-переходе

Название документа
IEC 60747-14-5-2010 Semiconductor devices – Part 14-5: Semiconductor sensors – PN-junction semiconductor temperature sensor Полупроводниковые устройства – Часть 14-5: Полупроводниковые датчики – Температурный датчик на p-n-переходе
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60747-14-5-2010» устанавливает стандарты для полупроводниковых датчиков, в частности, ПН-структурных полупроводниковых температурных датчиков. Основное назначение данного стандарта заключается в определении методов и требований, необходимых для точного и надежного измерения температуры с использованием полупроводниковых материалов. Этот документ широко применяется в области электроники и промышленного производства, где точность температуры критична для функционирования различных устройств.

Ключевыми аспектами, регулируемыми данным стандартом, являются методики испытаний, параметры, влияющие на точность измерений, и требования к условиям эксплуатации. Стандарт описывает необходимые процедуры для калибровки и тестирования датчиков, а также определяет измеряемые величины, такие как температурный коэффициент и допустимые пределы погрешности. Эти параметры обеспечивают совместимость и надежность приборов в различных приложениях.

Технические детали, описанные в стандарте, включают условия испытаний, среди которых температурные диапазоны и воздействия окружающей среды. Стандарт также включает классификации типов датчиков и их специфические измерительные характеристики. Установленные требования способствуют обеспечению высоких стандартов качества и безопасности при использовании полупроводниковых датчиков в различных отраслях.

Целевая аудитория данного документа включает производителей полупроводниковых приборов, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией и оценкой соответствия. Создание единых стандартов дает возможность различным участникам рынка синхронизировать свои процессы и продукцию, что ведет к повышению общей надежности и образованию здоровой конкурентной среды.

Практическое значение стандарта осуществляется через его влияние на безопасность использования приборов, качество выпускаемой продукции и соблюдение норм охраны труда. Стандарт способствует минимизации рисков, связанных с неправильным измерением температуры, что, в свою очередь, positively affects operational safety in industrial environments. Если документ включает изменения или дополнения, они направлены на уточнение процедур или параметров, что позволяет оставаться в авангарде технологического прогресса.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-14-4-2011 Semiconductor devices – Discrete devices – Part 14-4: Semiconductor accelerometers Полупроводниковые устройства – Дискретные устройства – Часть 14-4: Полупроводниковые акселерометры PDF IEC 60747-14-3-2009 Semiconductor devices – Part 14-3: Semiconductor sensors – Pressure sensors Полупроводниковые устройства – Часть 14-3: Полупроводниковые датчики – Датчики давления PDF IEC 60747-14-2-2000 Semiconductor Devices - Part 14-2: Semiconductor Sensors - Hall Elements Полупроводниковые устройства - Часть 14-2: Полупроводниковые датчики - Галлельные элементы PDF IEC 60747-15-2010 Semiconductor devices – Discrete devices – Part 15: Isolated power semiconductor devices Полупроводниковые устройства – Дискретные устройства – Часть 15: Изолированные полупроводниковые устройства питания PDF IEC 60747-16-1-2017 Semiconductor devices – Part 16-1: Microwave integrated circuits – Amplifiers Полупроводниковые устройства – Часть 16-1: Микроволновые интегральные схемы – Усилители PDF IEC 60747-16-10-2004 Semiconductor devices Part 16-10: Technology Approval Schedule (TAS) for monolithic microwave integrated circuits Полупроводниковые устройства Часть 16-10: Расписание технологической одобрения (TAS) для монолитных микроволновых интегральных схем