Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60747-15-2010 Semiconductor devices – Discrete devices – Part 15: Isolated power semiconductor devices Полупроводниковые устройства – Дискретные устройства – Часть 15: Изолированные полупроводниковые устройства питания

Название документа
IEC 60747-15-2010 Semiconductor devices – Discrete devices – Part 15: Isolated power semiconductor devices Полупроводниковые устройства – Дискретные устройства – Часть 15: Изолированные полупроводниковые устройства питания
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60747-15-2010» представляет собой стандарт, касающийся полупроводниковых дискретных устройств, специально выделяя изолированные силовые полупроводниковые устройства. Основное назначение данного документа заключается в установлениие требований и методов, необходимых для обеспечения качества и надежности таких устройств, которые используются в различных областях электроприборостроения, включая потребительскую электронику, промышленные системы и автоматизацию.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми документом, являются методы испытаний, параметры производительности и требования к конструкции изолированных силовых полупроводников. Стандарт описывает процедуры испытаний, которые необходимо выполнять для оценки функциональности и долговечности этих устройств, а также требования к конструктивным элементам и их материалам, чтобы гарантировать высокую степень надежности в различных эксплуатационных условиях.

Важные технические детали включают спецификации условий испытаний, методы классификации, а также измеряемые величины, такие как температурные характеристики и электрические параметры, что необходимо для проведения полной оценки производительности устройств. Эти аспекты критичны для избежания потенциальных сбоев в работе силовых полупроводников и обеспечения их долгосрочной службы в различных приложениях.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, лаборатории, занимающиеся их испытаниями, а также контрольные органы, ответственные за соблюдение норм и стандартов в области электроники. Эти участники рынка должны быть хорошо осведомлены о содержании документа для правильной разработки, тестирования и верификации изолированных силовых полупроводниковых устройств.

Практическое значение стандарта заключается в его воздействии на безопасность, качество и совместимость полупроводниковых изделий. Нормативы, установленные данным стандартом, способствуют снижению рисков, связанных с эксплуатацией устройств, улучшают условия труда, а также обеспечивают соответствие требованиям охраны окружающей среды. В случае наличия изменений или дополнений в документе, они будут касаться уточнений методов испытаний и актуализации параметров, что further enhances the reliability and applicability of the standard in the evolving technological landscape.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-14-5-2010 Semiconductor devices – Part 14-5: Semiconductor sensors – PN-junction semiconductor temperature sensor Полупроводниковые устройства – Часть 14-5: Полупроводниковые датчики – Температурный датчик на p-n-переходе PDF IEC 60747-14-4-2011 Semiconductor devices – Discrete devices – Part 14-4: Semiconductor accelerometers Полупроводниковые устройства – Дискретные устройства – Часть 14-4: Полупроводниковые акселерометры PDF IEC 60747-14-3-2009 Semiconductor devices – Part 14-3: Semiconductor sensors – Pressure sensors Полупроводниковые устройства – Часть 14-3: Полупроводниковые датчики – Датчики давления PDF IEC 60747-16-1-2017 Semiconductor devices – Part 16-1: Microwave integrated circuits – Amplifiers Полупроводниковые устройства – Часть 16-1: Микроволновые интегральные схемы – Усилители PDF IEC 60747-16-10-2004 Semiconductor devices Part 16-10: Technology Approval Schedule (TAS) for monolithic microwave integrated circuits Полупроводниковые устройства Часть 16-10: Расписание технологической одобрения (TAS) для монолитных микроволновых интегральных схем PDF IEC 60747-16-2-2008 Semiconductor devices – Part 16-2: Microwave integrated circuits – Frequency prescalers Полупроводниковые устройства – Часть 16-2: Микроволновые интегральные схемы – Частотные предделители