Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60747-5-9-2019 Semiconductor devices - Part 5-9: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the temperature-dependent electroluminescence Полупроводниковые устройства - Часть 5-9: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний внутренней квантовой эффективности на основе температурно-зависимой электролюминесценции

Название документа
IEC 60747-5-9-2019 Semiconductor devices - Part 5-9: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the temperature-dependent electroluminescence Полупроводниковые устройства - Часть 5-9: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний внутренней квантовой эффективности на основе температурно-зависимой электролюминесценции
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60747-5-9-2019» представляет собой стандарт, посвящённый полупроводниковым устройствам, с фокусом на оптоэлектронные компоненты, такие как светоизлучающие диоды (LED). Основное назначение стандарта заключается в установлении методов испытаний, позволяющих определить внутреннюю квантовую эффективность LED, основываясь на температурно-зависимой электролюминесценции. Этот документ является важным руководством для производителей и исследовательских лабораторий в сфере оптоэлектронной техники.

Ключевые аспекты, регулируемые стандартом, включают методики тестирования и параметры, такие как температурные диапазоны, использование определённых электроника и оптики. Процедуры испытаний подробно описывают условия, при которых должно проводиться тестирование, чтобы результаты были репрезентативны и соответствовали заявленным требованиям. Стандарт также требует применения определённых измерительных приборов для обеспечения точности результатов.

Важные технические детали включают в себя классификацию условий испытаний и измеряемых величин, таких как токи, напряжения и температуры, что позволяет детализировать процесс тестирования на различных стадиях производства. Для целевой аудитории ISO стандарта предусмотрены производители полупроводниковых устройств, испытательные лаборатории, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией продукции.

Практическое значение стандарта предопределяется его влиянием на безопасность и качество продукции. Применение чётких методов тестирования внутренней квантовой эффективности способствует повышению надёжности и совместимости светодиодов, что в свою очередь улучшает их применение в различных областях, включая освещение и дисплейные технологии. Изменения, внесённые в последний пересмотр стандарта, касаются уточнения процедур тестирования и обновления рекомендаций по использованию современных измерительных технологий.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-5-8-2019 Semiconductor devices - Part 5-8: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of optoelectronic efficiencies of light emitting diodes Полупроводниковые устройства - Часть 5-8: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний оптоэлектронной эффективности лазерных диодов PDF IEC 60747-5-7-2016 Semiconductor devices - Part 5-7: Optoelectronic devices - Photodiodes and phototransistors Полупроводниковые устройства - Часть 5-7: Оптоэлектронные устройства - Фотодиоды и фототранзисторы PDF IEC 60747-5-6-2021 Semiconductor devices - Part 5-6: Optoelectronic devices - Light emitting diodes Полупроводниковые устройства - Часть 5-6: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды PDF IEC 60747-6-1-1989 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 6: Thyristors - Section One: Blank detail specification for reverse blocking triode thyristors, ambient and case-rated, up to 100 A Полупроводниковые устройства - Отдельные устройства - Часть 6: Тиристоры - Раздел один: Пустой технический спецификационный документ для тиристоров с обратным блокированием, с оценкой окружающей среды и корпусированных, до 100 А PDF IEC 60747-6-2-1991 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 6: Thyristors - Section Two: Blank detail specification for bidirectional triode thyristors (triacs), ambient or case-rated, up to 100 A Полупроводниковые устройства - Отдельные устройства - Часть 6: Тиристоры - Раздел два: Пустой технический спецификационный документ для би-направленных тиристоров (треугольников), с оценкой окружающей среды или корпусированных, до 100 А PDF IEC 60747-6-2016 Semiconductor devices - Part 6: Discrete devices - Thyristors Полупроводниковые устройства - Часть 6: Отдельные устройства - Тиристоры