Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60747-6-1-1989 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 6: Thyristors - Section One: Blank detail specification for reverse blocking triode thyristors, ambient and case-rated, up to 100 A Полупроводниковые устройства - Отдельные устройства - Часть 6: Тиристоры - Раздел один: Пустой технический спецификационный документ для тиристоров с обратным блокированием, с оценкой окружающей среды и корпусированных, до 100 А

Название документа
IEC 60747-6-1-1989 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 6: Thyristors - Section One: Blank detail specification for reverse blocking triode thyristors, ambient and case-rated, up to 100 A Полупроводниковые устройства - Отдельные устройства - Часть 6: Тиристоры - Раздел один: Пустой технический спецификационный документ для тиристоров с обратным блокированием, с оценкой окружающей среды и корпусированных, до 100 А
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60747-6-1-1989» охватывает стандартные требования к семiconductors, в частности, к трийодным тиристорам, обеспечивая ключевые спецификации для обратного блокирования и работы в различных условиях. Данный стандарт применим в области промышленной электроники, где требуется высокая надежность и стабильность работы компонентов. Он служит основой для производителей и разработчиков, обеспечивая единые параметры для оценки и тестирования качества тиристоров.

Ключевые регламентируемые аспекты включают методы испытаний, параметры производительности, а также требования к материалам и конструкциям трийодных тиристоров. Стандарт описывает условия для их эксплуатации, включая температурные диапазоны и электрические характеристики, что позволяет обеспечить высокую степень надежности и долговечности данных устройств. Все параметры определены с целью достижения оптимальной работы в различных приложениях.

Важные технические детали документа касаются условий испытаний, классификаций и измеряемых величин, таких как максимальные токи и напряжения. Стандарт также указывает на необходимость проведения испытаний на безопасность и соответствие требованиям качества. Это важно для обеспечения надежной работы тиристоров в условиях, где может возникнуть риск перегрева или повреждений.

Целевая аудитория включает производителей полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории, а также государственные и частные организации, занимающиеся контролем качества. Данный документ помогает этим сторонам обеспечить соответствие продукции современным требованиям и стандартам, что, в свою очередь, способствует улучшению качества и снижению рисков.

Практическое значение стандарта проявляется в его вкладе в безопасность эксплуатации электрических систем, качество производимой продукции и защиту труда работников. Стандарт также способствует межпредприятиям совместимости, что упрощает интеграцию различных компонентов в единые системы. В документе зафиксированы изменения, касающиеся актуализации испытательных методов и требований, что направлено на повышение общей эффективности и безопасности.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-5-9-2019 Semiconductor devices - Part 5-9: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the temperature-dependent electroluminescence Полупроводниковые устройства - Часть 5-9: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний внутренней квантовой эффективности на основе температурно-зависимой электролюминесценции PDF IEC 60747-5-8-2019 Semiconductor devices - Part 5-8: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of optoelectronic efficiencies of light emitting diodes Полупроводниковые устройства - Часть 5-8: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний оптоэлектронной эффективности лазерных диодов PDF IEC 60747-5-7-2016 Semiconductor devices - Part 5-7: Optoelectronic devices - Photodiodes and phototransistors Полупроводниковые устройства - Часть 5-7: Оптоэлектронные устройства - Фотодиоды и фототранзисторы PDF IEC 60747-6-2-1991 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 6: Thyristors - Section Two: Blank detail specification for bidirectional triode thyristors (triacs), ambient or case-rated, up to 100 A Полупроводниковые устройства - Отдельные устройства - Часть 6: Тиристоры - Раздел два: Пустой технический спецификационный документ для би-направленных тиристоров (треугольников), с оценкой окружающей среды или корпусированных, до 100 А PDF IEC 60747-6-2016 Semiconductor devices - Part 6: Discrete devices - Thyristors Полупроводниковые устройства - Часть 6: Отдельные устройства - Тиристоры PDF IEC 60747-6-3-1993 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 6: Thyristors - Section Three: Blank detail specification for reverse blocking triode thyristors, ambient and case-rated, for currents greater than 100 A Полупроводниковые устройства - Отдельные устройства - Часть 6: Тиристоры - Раздел три: Пустой технический спецификационный документ для тиристоров с обратным блокированием, с оценкой окружающей среды и корпусированных, для токов свыше 100 А