Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60747-6-2016 Semiconductor devices - Part 6: Discrete devices - Thyristors Полупроводниковые устройства - Часть 6: Отдельные устройства - Тиристоры

Название документа
IEC 60747-6-2016 Semiconductor devices - Part 6: Discrete devices - Thyristors Полупроводниковые устройства - Часть 6: Отдельные устройства - Тиристоры
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60747-6-2016 Semiconductor devices - Part 6: Discrete devices - Thyristors» представляет собой стандарт, который определяет требования и методы испытаний для тиристоров, используемых в полупроводниковых устройствах. Основная цель документа заключается в обеспечении безопасной и надежной эксплуатации тиристоров в различных электрических и электронных системах, что делает его актуальным для производителей и проектировщиков полупроводниковых компонентов.

Стандарт регламентирует ключевые аспекты, такие как методы тестирования тиристоров, параметры их работы, требования к материалам и конструкции, а также процедуру оценки характеристик. Важными элементами являются данные о максимальных и минимальных значениях рабочих температур и временных интервалов, в которых должны проводиться испытания. Также обращается внимание на необходимость соблюдения стандартов безопасности и предельно допустимых значений для обеспечения их надежности.

Технические детали, упомянутые в документе, включают условия испытаний, такие как возможность работы в режиме постоянного и переменного напряжения, а также классификации тиристоров по различным критериям, в том числе по способам управления и типам конструкции. Измеряемые величины, такие как напряжение, ток, температура и время, играют ключевую роль в оценке производительности тиристоров и их соответствия стандартам.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых приборов, научные лаборатории, а также контролирующие органы и организации, занимающиеся сертификацией продукции. Они должны быть осведомлены о требованиях и методах испытаний, так как это обеспечивает соблюдение норм качества и безопасности на рынке полупроводников.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество тиристоров, что, в свою очередь, обеспечивает надежность работы электрических устройств и систем, где они применяются. Стандарт способствует улучшению охраны труда и повышению совместимости различных компонентов. Изменения и дополнения, внесенные в этот документ, касаются уточнения методов испытаний и дополнений к характеристикам, что делает его более актуальным для современных требований и технологий в области полупроводников.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-6-2-1991 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 6: Thyristors - Section Two: Blank detail specification for bidirectional triode thyristors (triacs), ambient or case-rated, up to 100 A Полупроводниковые устройства - Отдельные устройства - Часть 6: Тиристоры - Раздел два: Пустой технический спецификационный документ для би-направленных тиристоров (треугольников), с оценкой окружающей среды или корпусированных, до 100 А PDF IEC 60747-6-1-1989 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 6: Thyristors - Section One: Blank detail specification for reverse blocking triode thyristors, ambient and case-rated, up to 100 A Полупроводниковые устройства - Отдельные устройства - Часть 6: Тиристоры - Раздел один: Пустой технический спецификационный документ для тиристоров с обратным блокированием, с оценкой окружающей среды и корпусированных, до 100 А PDF IEC 60747-5-9-2019 Semiconductor devices - Part 5-9: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the temperature-dependent electroluminescence Полупроводниковые устройства - Часть 5-9: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний внутренней квантовой эффективности на основе температурно-зависимой электролюминесценции PDF IEC 60747-6-3-1993 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 6: Thyristors - Section Three: Blank detail specification for reverse blocking triode thyristors, ambient and case-rated, for currents greater than 100 A Полупроводниковые устройства - Отдельные устройства - Часть 6: Тиристоры - Раздел три: Пустой технический спецификационный документ для тиристоров с обратным блокированием, с оценкой окружающей среды и корпусированных, для токов свыше 100 А PDF IEC 60747-7-1-1989 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 7: Bipolar transistors - Section One: Blank detail specification for ambient-rated bipolar transistors for low and high-frequency amplification Полупроводниковые устройства - Отдельные устройства - Часть 7: Биполярные транзисторы - Раздел один: Пустой технический спецификационный документ для биполярных транзисторов с оценкой окружающей среды для применения в усилителях низкой и высокой частоты PDF IEC 60747-7-2-1989 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 7: Bipolar transistors - Section Two: Blank detail specification for case-rated bipolar transistors for low-frequency amplification Полупроводниковые устройства - Отдельные устройства - Часть 7: Биполярные транзисторы - Раздел два: Пустой технический спецификационный документ для корпусированных биполярных транзисторов для применения в усилителях низкой частоты