Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
IEC 61967-1-2018 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and definitions Интегральные схемы - Измерение электромагнитных излучений - Часть 1: Общие условия и определения
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «IEC 61967-1-2018» устанавливает общие условия и определения для измерения электромагнитных излучений от интегральных схем. Он предназначен для применения в области электроники и охватывает как исследовательскую, так и производственную деятельность, направленную на выяснение уровня электромагнитных помех, связанных с работающими интегральными схемами.
Основные регламентируемые аспекты включают методы измерения электромагнитных излучений, параметры испытаний и требования к оборудованию. Стандарт описывает процедуры, которые обеспечивают достоверность результатов измерений, что критически важно для подтверждения соответствия создаваемой продукции установленным нормам.
Ключевые технические детали документа включают условия испытаний, такие как температура и влажность, а также классификации интегральных схем по типам и моделям. Также в стандарте уточняются измеряемые величины, что позволяет унифицировать подход к оценке электромагнитной совместимости.
Целевая аудитория данного стандарта включает производителей интегральных схем, лаборатории испытаний и контролирующие органы. Эти группы играют важную роль в обеспечении качества и безопасности электроники, а также в соблюдении международных норм и требований.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность продукции, качество ее работы, а также на охрану труда при эксплуатации электроники. Соблюдение данного документа способствует повышению совместимости устройств и снижению рисков, связанных с электромагнитными помехами.
В документе учтены последние изменения в области измерений электромагнитных излучений, что позволяет интегрировать новые технологии и методологии в действующие процессы. Это позволяет не только поддерживать уровень качества, но и адаптироваться к требованиям современного рынка и научных исследований.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»
Возможно вас заинтересуют
IEC 61966-9-2003 Multimedia systems and equipment Colour measurement and management Part 9: Digital cameras
Мультимедийные системы и оборудование Цветовое измерение и управление Часть 9: Цифровые камеры
IEC 61966-8-2001 Multimedia Systems and Equipment - Colour Measurement and Management - Part 8: Multimedia Colour Scanners
Мультимедийные системы и оборудование - Цветовое измерение и управление - Часть 8: Мультимедийные цветовые сканеры
IEC 61966-7-1-2006 Multimedia systems and equipment – Colour measurement and management – Part 7-1: Colour printers – Reflective prints – RGB inputs
Мультимедийные системы и оборудование – Цветовое измерение и управление – Часть 7-1: Цветные принтеры – Отраженные отпечатки – Входы RGB
IEC 61967-2-2005 Integrated circuits Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz Part 2: Measurement of radiated emissions TEM cell and wideband TEM cell method
Интегральные схемы Измерение электромагнитных излучений, 150 кГц до 1 ГГц Часть 2: Измерение излучаемых излучений TEM-клетка и широкополосная TEM-клетка метод
IEC 61967-4-2021 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method
Интегральные схемы - Измерение электромагнитных излучений - Часть 4: Измерение проводимых излучений - Метод прямого соединения 1 ом/150 ом
IEC 61967-5-2003 Integrated circuits Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz Part 5: Measurement of conducted emissions Workbench Faraday Cage method
Интегральные схемы Измерение электромагнитных излучений, 150 кГц до 1 ГГц Часть 5: Измерение проводимых излучений Метод рабочей площадки в Фарадеевской камере