Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
IEC 62047-9-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS Полупроводниковые устройства – Микромеханические устройства – Часть 9: Измерение прочности соединения между пластинами для MEMS
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «IEC 62047-9-2011» описывает стандарты измерения прочности соединения по технологии «wafer to wafer» для микросистем на основе микроэлектромеханических систем (MEMS). Основное назначение документа заключается в установлении требований к методам испытаний, параметрам, а также условиям, необходимым для оценки прочности таких соединений. Это направление актуально для производителей, разработчиков и исследовательских лабораторий, занимающихся MEMS-технологиями.
Ключевыми аспектами, регламентируемыми данным стандартом, являются методы измерения и критерии оценки прочности соединений. Используются специальные испытания при контролируемых условиях, которые определяют параметры, такие как температура, давление и время воздействия. Документ также устанавливает минимальные требования к оборудованию, используемому для проведения испытаний, что позволяет достигать точных и воспроизводимых результатов.
Важно отметить, что документ охватывает классификацию прочности соединений и описывает измеряемые величины, включая силы отсоединения и прочностные характеристики. Эти данные позволяют оценить надежность соединений в различных условиях эксплуатации, что критически важно для обеспечения безопасности изделий и долговечности их работы в реальных условиях.
Целевая аудитория стандарта включает производителей MEMS, лаборатории, занимающиеся тестированием и сертификацией, а также контролирующие органы, отвечающие за соблюдение стандартов безопасности и качества. Стандарт служит основой для сертификации продуктов, что повышает уровень доверия к изделиям на рынке и способствует их успешной интеграции в более широкие технологические системы.
Практическое значение стандарта «IEC 62047-9-2011» заключается в его влиянии на безопасность и качество производимых элементов, а также на охрану труда, совместимость технологий. Данный стандарт представляет собой критически важный ресурс для развития MEMS-технологий, обеспечивая надежные и безопасные решения для различных промышленных приложений. При наличии изменений в обосновании стандарта следует отметить обновленную версию, которая уточняет некоторые методы испытаний и расширяет понятия, связанные с прочностью соединений.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»