496019237 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62047-9-2011 cor1-2012 IEC 62047-9-2011 cor1-2012

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 62047-9-2011 cor1-2012 IEC 62047-9-2011 cor1-2012
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 62047-9-2011 cor1-2012» представляет собой стандарт, касающийся технологий встроенных в микросистемах сенсоров и систем. Основное назначение данного документа заключается в обеспечении единого подхода к тестированию и оценке этих технологий, что позволяет гарантировать их корректное функционирование в различных приложениях. Стандарт применяется в области разработки и производства микросистем и их компонентов, включая датчики, актуаторы и их интеграцию в устройства.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми документом, являются методы испытаний, параметры измерений, а также требования к функциональности и производительности микросистем. В частности, стандарт описывает процедуры тестирования, включая оценку устойчивости к механическим и термическим воздействиям, а также электромагнитной совместимости. Важным аспектом является необходимость соблюдения определённых температурных и влажностных условий в процессе испытаний.

Стандарт ориентирован на широкий круг специалистов, включая производителей микросистем, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, которые занимаются сертификацией и оценкой качества подобных технологий. Это позволяет повысить уровень доверия к продуктам, соответствующим данному стандарту, среди потребителей и профессионального сообщества.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество систем, основанных на микросистемах. Соблюдение положений данного документа способствует улучшению охраны труда и снижению рисков, связанных с использованием дефектных компонентов. Кроме того, это повышает совместимость разных устройств и систем, что значительно улучшает общее качество конечного продукта.

Документ «IEC 62047-9-2011 cor1-2012» также включает в себя актуализации и уточнения, касающиеся методов испытаний и требований к измеряемым величинам. Эти изменения направлены на повышение точности и надёжности оценки функциональности микросистем в современных условиях, что учитывает быстрые темпы развития технологий в данной области.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 62047-8-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films Полупроводниковые устройства – Микромеханические устройства – Часть 8: Метод испытания изгиба полосы для измерения механических свойств тонких пленок PDF IEC 62047-7-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection Полупроводниковые устройства – Микромеханические устройства – Часть 7: Фильтры и дуплексеры BAW для MEMS для радиочастотного контроля и выбора PDF IEC 62047-6-2009 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials Полупроводниковые устройства – Микромеханические устройства – Часть 6: Методы испытаний на усталость осевого типа тонких материалов PDF IEC 62047-9-2011 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS Полупроводниковые устройства – Микромеханические устройства – Часть 9: Измерение прочности соединения между пластинами для MEMS PDF IEC 62050-2005 (IEEE 1076.6) PDF IEC 62052-11-2020 Electricity metering equipment - General requirements, tests and test conditions - Part 11: Metering equipment Оборудование для измерения электрической энергии - Общие требования, испытания и условия испытаний - Часть 11: Оборудование для измерения