496246926 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 60191-3-2000 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 3: General rules for the preparation of outline drawings of integrated circuits (IEC 60191-3:1999) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 3: Общие правила подготовки чертежей обводов интегральных схем (IEC 60191-3:1999)

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
DIN EN 60191-3-2000 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 3: General rules for the preparation of outline drawings of integrated circuits (IEC 60191-3:1999) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 3: Общие правила подготовки чертежей обводов интегральных схем (IEC 60191-3:1999)
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN EN 60191-3-2000» посвящён механической стандартизации полупроводниковых устройств и предоставляет общие правила для подготовки контурных чертежей интегральных схем. Он является частью более широкой серии стандартов, нацеленных на упрощение и унификацию процессов проектирования и производства интегральных схем, что способствует повышению их качества и безопасности. Стандарт применяется в различных областях, включая производство электроники, тестирование и сертификацию.

Ключевыми аспектами стандарта являются определение методов подготовки чертежей, параметров и требований к их оформлению, а также процедуры работы с документацией, связанной с проектированием интегральных схем. Он описывает, какие элементы должны быть указаны на чертежах, включая размеры, обозначения и методы представления электрических соединений. Это обеспечивает чёткое понимание и адекватное представление схем, необходимых для их дальнейшего производства и тестирования.

Важные технические детали, изложенные в документе, включают условия испытаний интегральных схем и классификацию различных параметров, которые могут быть измерены для проверки соответствия стандартам. Применяются методы, позволяющие гарантировать точность и надежность чертежей, что в свою очередь способствует эффективному контролю качества на всех стадиях производства. Стандарт также определяет минимальные требования к устройствам, чтобы они могли соответствовать современным технологиям и требованиям безопасности.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, испытательные лаборатории и контролирующие органы, заинтересованные в соблюдении единых норм и стандартов. Это позволяет различным участникам производственного процесса работать более слаженно и эффективно, уменьшая число ошибок и несоответствий. Важно отметить, что внедрение данного стандарта помогает обеспечивать совместимость устройств от разных производителей, что является ключевым аспектом в области электронной промышленности.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых устройств, что в свою очередь способствует улучшению охраны труда и снижению рисков, связанных с эксплуатацией электроники. Стандартом предусмотрены меры по контролю за совместимостью и безопасностью, что повышает доверие потребителей к производимой продукции. Также в последующих версиях были внесены изменения, касающиеся усовершенствования форматов подачи информации и уточнения требований к документам, что отвечает современным тенденциям в области проектирования и тестирования интегральных схем.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN EN 60191-1 E-2017 PDF DIN EN 60191-1-2007 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 1: General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices (IEC 60191-1:2007) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 1: Общие правила подготовки чертежей обводов дискретных устройств (IEC 60191-1:2007) PDF DIN EN 6019 E-1990 PDF DIN EN 60191-3 Beiblatt 1-2006 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 3: General rules for the preparation of outline drawings of integrated circuits - Supplement 1: Extract of the terms Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 3: Общие правила подготовки чертежей обводов интегральных схем - Дополнение 1: Выдержка терминов PDF DIN EN 60191-4-2003 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 4: Coding system and classification into forms of package outlines for semiconductor device packages (IEC 60191-4:1999 + A1:2001 + A2:2002); German version EN 60191-4:1999 + A1 Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 4: Система кодирования и классификация по формам обводов корпусов полупроводниковых устройств (IEC 60191-4:1999 + A1:2001 + A2:2002); немецкая версия EN 60191-4:1999 + A1 PDF DIN EN 60191-4-2014 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 4: Coding system and classification into forms of package outlines for semiconductor device packages (IEC 60191-4:2013) Механическая стандартизация полупроводниковых устройств - Часть 4: Система кодирования и классификация по формам обводов корпусов полупроводниковых устройств (IEC 60191-4:2013)