496248998 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 60749-27-2013 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006 + A1:2012) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 27: Испытания на чувствительность к статическому электрическому разряду (ESD) - Модель машины (MM) (IEC 60749-27:2006 + A1:2012)

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
DIN EN 60749-27-2013 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006 + A1:2012) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 27: Испытания на чувствительность к статическому электрическому разряду (ESD) - Модель машины (MM) (IEC 60749-27:2006 + A1:2012)
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN EN 60749-27-2013» посвящён методам механических и климатических испытаний полупроводниковых устройств, в частности, тестированию чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Он описывает процедуры, предназначенные для оценки устойчивости полупроводниковых компонентов и устройств к электростатическим воздействиям, что важно для обеспечения их надёжности и долговечности в условиях эксплуатации.

Основное назначение документа заключается в стандартизации методов испытаний, применяемых при тестировании компонентов на чувствительность к ESD. Среди ключевых регламентируемых аспектов находятся испытательные процедуры, параметры воздействия, а также требования к условиям тестирования, обеспечивающие воспроизводимость и точность получаемых результатов. Это позволяет пользователям более точно оценивать риски, связанные с повреждениями, вызванными статическим электричеством.

Важные технические детали включают описания условий испытаний, таких как использование моделей машинного разряда, а также классификацию компонентов по уровням чувствительности. Измеряемыми величинами являются напряжение разряда и параметры, влияющие на его величину. Эти характеристики тесно связаны с надежностью устройства в конечном использовании, что подчеркивает важность соблюдения стандартов.

Целевой аудиторией документа являются производители полупроводниковых устройств, лаборатории, занимающиеся испытаниями, и контролирующие органы, ответственные за соблюдение стандартов качества и безопасности. Стандарт помогает создать единое поле для тестирования и оценки, что способствует повышению доверия к продуктам на рынке.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность пользователей, поддержку качества продукции, охрану труда и совместимость различных изделий. Следование установленным методам и требованиям минимизирует риски возможных повреждений из-за электростатического разряда, что, в свою очередь, способствует повышению уровня безопасности и качества в электронике.

Данный стандарт также включает изменения и дополнения по сравнению с предыдущими редакциями, уточняющие испытательные подходы и методологии. Эти дополнения направлены на улучшение контроля за качеством и повышении точности оценки чувствительности к электростатическим разрядам, что является важным аспектом для современных технологий и их применения.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN EN 60749-26-2007 PDF DIN EN 60749-25-2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling (IEC 60749-25:2003) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 25: Циклические испытания на температуру (IEC 60749-25:2003) PDF DIN EN 60749-24-2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST (IEC 60749-24:2004) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 24: Ускоренные испытания на устойчивость к влаге - Неискалеченный HAST (IEC 60749-24:2004) PDF DIN EN 60749-28 E-2012 PDF DIN EN 60749-29-2012 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2011) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 29: Тестирование на захват (IEC 60749-29:2011) PDF DIN EN 60749-3-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection (IEC 60749-3:2002) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 3: Внешний визуальный осмотр (IEC 60749-3:2002)