496249058 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 60749-6-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 6: Хранение при высокой температуре (IEC 60749-6:2002)

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
DIN EN 60749-6-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 6: Хранение при высокой температуре (IEC 60749-6:2002)
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN EN 60749-6-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002)» определяет методы испытаний полупроводниковых устройств, касающихся хранения при повышенных температурах. Он предназначен для использования производителями, лабораториями и контролирующими органами, стремящимися обеспечить надёжность и долговечность своих продуктов в условиях высокой температуры.

Основные аспекты, регулируемые данным стандартом, включают методы тестирования, параметры испытаний, такие как температура, время и относительная влажность, а также требования к проведению данных исследований. Стандарт обеспечивает чёткие указания по проведению испытаний, что позволяет минимизировать риски, связанные с несоответствием качества полупроводниковых устройств.

Технические детали, охватываемые стандартом, включают условия испытаний, такие как контроль температуры и режимы хранения, а также классификацию полупроводниковых устройств по их стойкости к высокотемпературным условиям. Измеряемые величины могут включать изменения электрических характеристик, что является критически важным для оценки их надёжности.

Целевая аудитория стандарта охватывает производителей полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории и органы, занимающиеся контролем качества. Эффективное применение данного стандарта способствует улучшению процессов разработки, тестирования и сертификации полупроводниковых изделий, что, в свою очередь, минимизирует риск выхода из строя конечных продуктов в результате перегрева.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых устройств, а также на охрану труда и окружающей среды. Регулярное соблюдение стандартов позволяет повысить совместимость различных устройств и минимизировать негативные последствия от недостатков в производстве. Изменения и дополнения, внесённые в стандарт, отражают современные требования и технологические улучшения, что способствует поддержанию его актуальности и значимости в индустрии.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN EN 60749-5 E-2016 PDF DIN EN 60749-5-2018 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2017); German version EN 60749-5:2017 Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 5: Постоянный тест температуры-влажности-напряжения (IEC 60749-5:2017); немецкая версия EN 60749-5:2017 PDF DIN EN 60749-5-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2003) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 5: Постоянный тест температуры-влажности-напряжения (IEC 60749-5:2003) PDF DIN EN 60749-6-2017 PDF DIN EN 60749-6 E-2016 PDF DIN EN 60749-7-2012 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (IEC 60749-7:2011) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 7: Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов (IEC 60749-7:2011)