Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
DIN EN 60749-6-2017
Доступ к полной версии документа ограничен
Документ «DIN EN 60749-6-2017» является важным стандартом, предназначенным для определения требований к испытаниям полупроводниковых устройств на устойчивость к механическим воздействием, таким как вибрации и удары. Этот стандарт применяется в области электроники и электротехники, что охватывает как производителей, так и испытательные лаборатории, занимающиеся контролем качества продукции.
Основными аспектами, регулируемыми данным документом, являются методы испытаний, параметры, которым должны соответствовать полупроводниковые устройства, а также процедуры их оценки. Установлены конкретные требования к условиям испытаний, включая описание типовых испытаний на вибрацию и удар, что позволяет обеспечить единообразие и воспроизводимость результатов для исследуемых изделий.
Технические детали, касающиеся данного стандарта, включают в себя условия, при которых должны проводиться испытания, такие как температура, влажность и уровень давления. Классификация различных типов полупроводниковых устройств и измеряемые величины играют ключевую роль в процессе оценки их устойчивости. В стандарте также содержатся рекомендации по интерпретации результатов испытаний и оформлению отчетов.
Целевая аудитория стандарта охватывает производителей полупроводниковых устройств, специалиста из лабораторий, а также контролирующие органы, отвечающие за соблюдение качества и безопасности продукции. Стандарт обеспечивает необходимую основу для повышения доверия к оценкам, делая их более прозрачными и доступными для анализа.
Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость полупроводниковых устройств. Выполнение критериев, установленных в «DIN EN 60749-6-2017», помогает минимизировать риски, связанные с отказами компонентов в конечных продуктах, что, в свою очередь, улучшает условия труда и защиты окружающей среды. Стандарт также подвергся обновлениям, отражающим современные требования и технологии, что позволяет учесть новые достижения в области материалов и технологий.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»
Возможно вас заинтересуют
DIN EN 60749-6-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002)
Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 6: Хранение при высокой температуре (IEC 60749-6:2002)
DIN EN 60749-5 E-2016
DIN EN 60749-5-2018 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2017); German version EN 60749-5:2017
Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 5: Постоянный тест температуры-влажности-напряжения (IEC 60749-5:2017); немецкая версия EN 60749-5:2017
DIN EN 60749-6 E-2016
DIN EN 60749-7-2012 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (IEC 60749-7:2011)
Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 7: Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов (IEC 60749-7:2011)
DIN EN 60749-8-2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing (IEC 60749-8:2002 + Corr. 1:2003 + Corr. 2:2003)
Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 8: Закрытие (IEC 60749-8:2002 + Corr. 1:2003 + Corr. 2:2003)