Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 62047-18 E-2011

Название документа
DIN EN 62047-18 E-2011
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN EN 62047-18 E-2011» представляет собой стандарт, предоставляющий методические указания для характеристик и измерений микротехнологий, связанных с полупроводниковыми устройствами. Основное назначение документа заключается в обеспечении единообразия в оценке параметров, необходимых для проектирования и разработки таких устройств. Совершенствование процесса сертификации, а также стандартизация методов испытаний становятся критически важными в быстро развивающейся области микроэлектроники.

В документе регламентируются ключевые аспекты, касающиеся методов испытаний, включая спецификации для измеряемых величин, таких как электрические, механические и термические параметры. Также определяются стандарты для условия испытаний, что позволяет производителям более точно оценивать надежность и эффективность своих изделий. Учет этих параметров важен для соблюдения требований безопасности и качества в процессе производства.

Ключевыми техническими деталями, описанными в стандарте, являются классификации устройств, а также методы контроля их производительности в различных условиях. Испытания проводятся с учётом специфических параметров, таких как температурные диапазоны и напряжения, что обеспечивает достоверность результатов. Это позволяет лабораториям и контролирующим органам проводить качественную и стандартизированную оценку продуктов на всех этапах их жизненного цикла.

Целевая аудитория данного документа включает производителей полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, которые тесно связаны с обеспечением качества и безопасности в данной области. Их работа требует строгого соблюдения регламентированного контроля, поэтому наличие данного стандарта является важным для достижения высоких показателей надежности и безопасности продукции.

Практическое значение стандарта «DIN EN 62047-18 E-2011» заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых изделий, а также на охрану труда в процессе их производства. Следование указанным методам и параметрам способствует обеспечению совместимости различных компонентов, что в свою очередь повышает общую эффективность и устойчивость конечных устройств. Если документ включает изменения или дополнения, то они обычно касаются уточнения методов испытаний или параметров, что отражает актуальные тенденции в научных исследованиях и разработках.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN EN 62047-18-2014 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials (IEC 62047-18:2013) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 18: Методы испытания изгиба тонких материалов (IEC 62047-18:2013) PDF DIN EN 62047-17 E-2011 PDF DIN EN 62047-17-2015 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films (IEC 62047-17:2015) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 17: Метод испытания на деформацию для измерения механических свойств тонких пленок (IEC 62047-17:2015) PDF DIN EN 62047-19-2014 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 19: Electronic compasses (IEC 62047-19:2013) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 19: Электронные компасы (IEC 62047-19:2013) PDF DIN EN 62047-19 E-2011 PDF DIN EN 62047-2-2007 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2: Tensile testing method of thin film materials (IEC 62047-2:2006) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 2: Метод испытания на растяжение тонких материалов (IEC 62047-2:2006)