Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 62047-17 E-2011

Название документа
DIN EN 62047-17 E-2011
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN EN 62047-17 E-2011» представляет собой стандарт, касающийся технологий измерения параметров микросистемной техники. Он определяет основные методы и требования, необходимые для обеспечения точности и сопоставимости результатов измерений в данной области. Стандарт применяется в различных отраслях, включая электронику, мехатронику и научные исследования, где микросистемная техника играет ключевую роль.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми в документе, являются методики испытаний, параметры измерений и требования к специфическим инструментам и оборудованию, используемым в процессе контроля качества. Стандарт охватывает процедуры для проведения тестов на стабильность, точность и воспроизводимость результатов, что делает его неотъемлемым элементом для гарантии качества продукции.

Важно отметить важные технические детали, такие как условия испытаний, классификации в зависимости от типа продукции и измеряемые величины. Документ также содержит указания по минимальным требованиям к методам испытаний, которые должны соблюдаться для обеспечения надежности получаемых данных. Эти аспекты жизненно важны для достижения необходимого уровня стандартизации в области микросистем.

Целевая аудитория стандарта включает производителей микросистем, исследовательские лаборатории и контролирующие органы, ответственные за соблюдение качества и безопасности продукции. Оснащение компаний и лабораторий на соответствие требованиям документа позволяет им функционировать более эффективно и безопасно, что отражается на качестве выпускаемой продукции.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость продуктов, связанных с микросистемной техникой. Соблюдение данного стандарта способствует повышению уровня удовлетворенности потребителей и снижению рисков, связанных с потенциальными несоответствиями в производстве. Кроме того, изменения и дополнения к стандарту включают актуализацию методов и параметров, что позволяет поддерживать его соответствие современным требованиям индустрии.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN EN 62047-17-2015 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films (IEC 62047-17:2015) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 17: Метод испытания на деформацию для измерения механических свойств тонких пленок (IEC 62047-17:2015) PDF DIN EN 62047-16 E-2012 PDF DIN EN 62047-16-2015 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 16: Test methods for determining residual stresses of MEMS films - Wafer curvature and cantilever beam deflection methods (IEC 62047-16:2015) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 16: Методы испытаний для определения остаточных напряжений пленок MEMS - Методы кривизны пластинки и изгиба балки микромеханического элемента (IEC 62047-16:2015) PDF DIN EN 62047-18-2014 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials (IEC 62047-18:2013) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 18: Методы испытания изгиба тонких материалов (IEC 62047-18:2013) PDF DIN EN 62047-18 E-2011 PDF DIN EN 62047-19-2014 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 19: Electronic compasses (IEC 62047-19:2013) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 19: Электронные компасы (IEC 62047-19:2013)