Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 62047-16 E-2012

Название документа
DIN EN 62047-16 E-2012
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN EN 62047-16 E-2012» представляет собой стандарт, который описывает методы и требования к испытаниям в области микроэлектронных систем и устройств. Он нацелен на применение в микроэлектронике, включая структуры, материалы и технологии, связанные с микро- и наномоделированием. Основная цель документа заключается в обеспечении единообразия и согласованности в методах оценки таких систем.

Стандарт регламентирует ключевые аспекты, такие как методы испытаний, параметры измерений и специфические требования к используемым материалам и оборудованию. Он определяет, какие характеристики должны быть оценены, чтобы гарантировать соответствие компонентов установленным нормам. Оценка надежности и функциональности материалов является важным элементом, что делает его особенно актуальным для производителей и исследовательских лабораторий.

Одной из основных технических деталей является описание условий испытаний, включая температурные режимы, применяемые нагрузки и время воздействия. Стандарт также выделяет классификации устройств по их функциональным параметрам и областям применения. Измеряемые величины и требования к ним формируют основу для сравнительного анализа с продукцией, соответствующей другим международным стандартам.

Целевая аудитория данного документа включает в себя производителей микроэлектронных устройств, исследовательские и испытательные лаборатории, а также контролирующие органы, ответственные за сертификацию и соблюдение стандартов качества. Это обстоятельство подчеркивает важность документа в контексте внедрения новых технологий и обеспечения их безопасности на рынке.

Практическое значение стандарта заключается в повышении безопасности и качества продукции, а также в обеспечении совместимости различных микроэлектронных систем. Стандарт вносит вклад в улучшение условий труда, снижая риски, связанные с использованием и эксплуатацией электроники. При наличии изменений или дополнений в документе подчеркивается необходимая адаптация к современным требованиям и технологиям, что способствует постоянному развитию и совершенствованию данной области.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN EN 62047-16-2015 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 16: Test methods for determining residual stresses of MEMS films - Wafer curvature and cantilever beam deflection methods (IEC 62047-16:2015) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 16: Методы испытаний для определения остаточных напряжений пленок MEMS - Методы кривизны пластинки и изгиба балки микромеханического элемента (IEC 62047-16:2015) PDF DIN EN 62047-15 E-2012 PDF DIN EN 62047-15-2016 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 15: Test method of bonding strength between PDMS and glass (IEC 62047-15:2015) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 15: Метод испытания прочности сцепления между PDMS и стеклом (IEC 62047-15:2015) PDF DIN EN 62047-17-2015 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films (IEC 62047-17:2015) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 17: Метод испытания на деформацию для измерения механических свойств тонких пленок (IEC 62047-17:2015) PDF DIN EN 62047-17 E-2011 PDF DIN EN 62047-18-2014 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials (IEC 62047-18:2013) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 18: Методы испытания изгиба тонких материалов (IEC 62047-18:2013)