Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 62047-18-2014 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials (IEC 62047-18:2013) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 18: Методы испытания изгиба тонких материалов (IEC 62047-18:2013)

Название документа
DIN EN 62047-18-2014 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials (IEC 62047-18:2013) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 18: Методы испытания изгиба тонких материалов (IEC 62047-18:2013)
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN EN 62047-18-2014» посвящён методам испытаний изгиба тонкослойных материалов, используемых в полупроводниковых микромеханических устройствах. Основное назначение стандарта заключается в установлении единых требований и испытательных процедур, позволяющих оценивать механические свойства и производительность материалов при изгибе. Данный стандарт актуален для разработчиков, производителей и исследовательских лабораторий, занимающихся созданием и тестированием микромеханических систем.

Ключевые аспекты, охватываемые документом, включают в себя методы испытаний, определяемые параметры и требования, к которым должны соответствовать образцы. Стандарт описывает условия испытаний, такие как температура и скорость деформации, а также классификации материалов с точки зрения их механических свойств. В процессе тестирования также учитываются измеряемые величины, такие как предел прочности и эластичность материалов.

Целевой аудиторией данного стандарта являются производители микромеханических устройств, исследовательские учреждения и органы, занимающиеся контролем качества на всех стадиях производства. Стандарт выступает важным инструментом в обеспечении безопасности и качества конечной продукции, что в свою очередь напрямую влияет на надёжность микромеханических складных решений. Его применение способствует повышению уровня охраны труда, поскольку устанавливает чёткие параметры для оценки потенциальных рисков в процессе эксплитации материалов.

Практическое значение DIN EN 62047-18-2014 заключается в обеспечении совместимости различных материалов и технологий, используемых в полупроводниковой промышленности. Стандарт помогает снизить вероятность возникновения дефектов и повышения долговечности производимой продукции. В более свежих редакциях могут быть внесены изменения, касающиеся обновлений методов испытаний, которые соответствуют современным технологическим достижениям и стандартам. Так, уточняются детали о параметрах исследований, что улучшает репрезентативность получаемых результатов.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»