Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 62047-15 E-2012

Название документа
DIN EN 62047-15 E-2012
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN EN 62047-15 E-2012» предназначен для стандартизации методов и требований, касающихся функциональных характеристик микроэлектромеханических систем (MEMS). Он охватывает широкий спектр применения в промышленности, где MEMS используются для сенсоров, актуаторов и других интеллектуальных устройств. Основное внимание уделяется обеспечению единообразия и совместимости в производстве и испытаниях данных систем.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми данным стандартом, являются методы оценки параметров MEMS, включая измерение чувствительности, надежности и долговечности. Документ устанавливает процедуры испытаний, необходимые для подтверждения соответствия компонентов установленным требованиям. Методы тестирования охватывают как статические, так и динамические характеристики, которые влияют на эффективность и безопасность применения MEMS.

Важными техническими деталями стандарта являются условия испытаний, классификации систем и измеряемые величины, например, реакция на внешние воздействия и температурные колебания. Эти аспекты критически важны для лабораторий, занимающихся разработкой и тестированием MEMS. Стандарт также учитывает спецификации, которые необходимо соблюсти для достижения точных и воспроизводимых результатов.

Целевой аудиторией данного стандарта являются производители микроэлектромеханических систем, лаборатории, осуществляющие их тестирование, а также контролирующие органы, отвечающие за поддержку качества и безопасности продукции. Они должны следовать рекомендациям, содержащимся в документе, для достижения необходимого уровня доверия к продуктам на рынке.

Практическое значение стандарта «DIN EN 62047-15 E-2012» заключается в его влиянии на безопасность и качество продукции, использующей MEMS. Стандартизация помогает минимизировать риски, связанные с неисправностями, тем самым обеспечивая надежность и долговечность конечных устройств. Это также упрощает процесс сертификации, что положительно сказывается на совместимости различных решений и их интеграции в уже существующие системы.

В версии 2012 года были внесены изменения, касающиеся уточнений методов испытаний и добавления новых классов MEMS. Эти дополнения помогут производителям быстрее адаптироваться к изменениям в технологии и требованиям рынка, что делает стандарт более актуальным в условиях быстрого развития отрасли.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN EN 62047-15-2016 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 15: Test method of bonding strength between PDMS and glass (IEC 62047-15:2015) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 15: Метод испытания прочности сцепления между PDMS и стеклом (IEC 62047-15:2015) PDF DIN EN 62047-14-2012 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials (IEC 62047-14:2012) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 14: Метод измерения предела формирования металлических материалов (IEC 62047-14:2012) PDF DIN EN 62047-13-2012 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 13: Bend- and shear- type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures (IEC 62047-13:2012) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 13: Методы измерения адгезионной прочности типа изгиба и сдвига для конструкций МЭМС (IEC 62047-13:2012) PDF DIN EN 62047-16-2015 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 16: Test methods for determining residual stresses of MEMS films - Wafer curvature and cantilever beam deflection methods (IEC 62047-16:2015) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 16: Методы испытаний для определения остаточных напряжений пленок MEMS - Методы кривизны пластинки и изгиба балки микромеханического элемента (IEC 62047-16:2015) PDF DIN EN 62047-16 E-2012 PDF DIN EN 62047-17-2015 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films (IEC 62047-17:2015) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 17: Метод испытания на деформацию для измерения механических свойств тонких пленок (IEC 62047-17:2015)