Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 62047-30 E-2016

Название документа
DIN EN 62047-30 E-2016
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN EN 62047-30 E-2016» представляет собой стандарт, касающийся технических требований и методов оценки материалов на основе углеродных нанотрубок. Он предназначен для применения в области разработки и производства электронных устройств, где используется данный тип материалов, а также для научных исследований в этой области.

Основное назначение данного стандарта заключается в установлении четких методов испытаний, параметров и критериев, необходимых для оценки свойств углеродных нанотрубок. В документе регламентируется серия процедур, направленных на измерение электрических, механических и термических характеристик, что позволяет обеспечить единую методологию в данной сфере. Ключевыми аспектами являются определение стандартных условий испытаний и точных методов измерений.

Стандарт также включает важные технические детали, касающиеся классификаций материалов и условий их испытания. Условия испытаний должны быть четко прописаны, включая температуру, влажность и другие физические факторы, которые могут влиять на результаты. Измеряемые величины включают прочность на растяжение, провести термопроводность и электрическую проводимость нанотрубок, что является критически важным для их эффективного применения.

Целевая аудитория стандарта включает производителей углеродных нанотрубок, научные лаборатории, а также контролирующие органы, ответственные за соблюдение стандартов качества и безопасности. Документ служит основой для разработчиков, позволяя им уверенно оценивать и улучшать характеристики своих продуктов, а также соответствовать актуальным требованиям рынка.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество материалов, которые используются в высокотехнологичных областях, включая электронику и телекоммуникации. Следование этому стандарту помогает предприятиям обеспечить совместимость своих продуктов с международными требованиями, что способствует улучшению охраны труда и общей безопасности продукции. В дополнение, стандарт может быть пересмотрен с учетом технологических изменений и новых научных данных, что требует регулярной актуализации его содержимого.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN EN 62047-3-2007 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile-testing (IEC 62047-3:2006) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 3: Тонкие пленки стандартного образца для испытания на растяжение (IEC 62047-3:2006) PDF DIN EN 62047-29 E-2016 PDF DIN EN 62047-28 E-2015 PDF DIN EN 62047-4-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS (IEC 62047-4:2008) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 4: Общая спецификация для МЭМС (IEC 62047-4:2008) PDF DIN EN 62047-5-2012 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches (IEC 62047-5:2011) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 5: Радиочастотные MEMS-переключатели (IEC 62047-5:2011) PDF DIN EN 62047-6-2010 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials (IEC 62047-6:2009) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 6: Методы испытания усталости осевого типа тонких материалов (IEC 62047-6:2009)