Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 62047-4-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS (IEC 62047-4:2008) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 4: Общая спецификация для МЭМС (IEC 62047-4:2008)

Название документа
DIN EN 62047-4-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS (IEC 62047-4:2008) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 4: Общая спецификация для МЭМС (IEC 62047-4:2008)
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN EN 62047-4-2011» посвящён спецификациям полупроводниковых микромеханических устройств. Он служит основным руководством в области проектирования, производства и тестирования таких устройств, обеспечивая единые стандарты для участников отрасли. Основная цель документа — установить технические параметры и требования, необходимые для обеспечения надлежащего качества и безопасности микромеханических систем.

Важнейшие аспекты, регламентируемые в документе, включают методы испытаний, параметры условий тестирования и спецификации для различных типов измерительных приборов. Устанавливаются требования к точности и воспроизводимости результатов, что критично для надёжности и функциональности микромеханических устройств. Описываются процедуры калибровки и контроля, что позволяет поддерживать высокий уровень качества продукции на всех этапах её жизненного цикла.

Документ охватывает важные технические детали, такие как условия испытаний, классификацию устройств в зависимости от их функциональных характеристик, а также измеряемые величины, необходимые для проверки соответствия изделий стандартам. Установленные параметры испытаний соответствуют международным требованиям и способствуют сопоставимости результатов, получаемых в различных лабораториях и производственных условиях.

Целевая аудитория стандарта включает производителей микромеханических устройств, исследовательские лаборатории и регулирующие органы. Он служит важным инструментом для специалистов, занимающихся разработкой, тестированием и контролем качества полупроводниковых компонентов. Подходящее применение этого стандарта значительно упрощает процесс сертификации и способствует унификации производственных процессов в мировой практике.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество выпускаемой продукции и её совместимость с другими технологическими решениями. Следование указанным требованиям способствует минимизации рисков, связанных с эксплуатацией микромеханических устройств, и повышает уровень их надежности. В документе также учтены изменения и дополнения, направленные на улучшение процессов тестирования и более точное соответствие современным технологическим требованиям.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN EN 62047-30 E-2016 PDF DIN EN 62047-3-2007 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile-testing (IEC 62047-3:2006) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 3: Тонкие пленки стандартного образца для испытания на растяжение (IEC 62047-3:2006) PDF DIN EN 62047-29 E-2016 PDF DIN EN 62047-5-2012 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches (IEC 62047-5:2011) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 5: Радиочастотные MEMS-переключатели (IEC 62047-5:2011) PDF DIN EN 62047-6-2010 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials (IEC 62047-6:2009) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 6: Методы испытания усталости осевого типа тонких материалов (IEC 62047-6:2009) PDF DIN EN 62047-7-2012 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection (IEC 62047-7:2011) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 7: МЭМС-фильтры и дуплексеры BAW для радиочастотного управления и выбора (IEC 62047-7:2011)