Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 62047-7-2012 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection (IEC 62047-7:2011) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 7: МЭМС-фильтры и дуплексеры BAW для радиочастотного управления и выбора (IEC 62047-7:2011)

Название документа
DIN EN 62047-7-2012 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection (IEC 62047-7:2011) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 7: МЭМС-фильтры и дуплексеры BAW для радиочастотного управления и выбора (IEC 62047-7:2011)
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN EN 62047-7-2012» определяет стандарты для полупроводниковых устройств, в частности, для микромеханических устройств (MEMS), которые используются в фильтрах и дуплексерах с использованием технологии BAW (Bulk Acoustic Wave) для радиочастотного управления и выбора сигналов. Он охватывает различные аспекты проектирования и применения таких устройств, обеспечивая их эффективность в области связи. Основное назначение документа заключается в установлении единых требований, методик тестирования и параметров, которые должны соблюдаться при разработке и производстве MEMS BAW фильтров.

Ключевыми регламентируемыми аспектами стандартa являются методы и нормативы испытаний, параметры производительности, а также требования к материалам, используемым в конструкции фильтров и дуплексеров. Стандарт охватывает конкретные детали, такие как минимальные и максимальные рабочие частоты, коэффициенты усиления и уровень искажений сигнала. Также он применяется для оценки воздействия различных факторов окружающей среды на работу устройств.

Важные технические детали документа включают описание условий испытаний, таких как температура, влажность и механические нагрузки, к которым должны быть подвергнуты устройства. Стандарт также определяет классификации, которым должны соответствовать MEMS BAW фильтры, включая их измеряемые величины, такие как качество резонанса и уровень шума. Эти детали являются основополагающими для обеспечения надежности и долговечности устройств.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей MEMS, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, которые занимаются сертификацией и регулированием полупроводниковых технологий. Dette стандарты призваны облегчить обмен информацией и сократить разрыв между требованиями клиентов и производственными возможностями.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость продуктов на рынке. Соблюдение норм DIN EN 62047-7-2012 обеспечивает стабильную работу и эффективность фильтров и дуплексеров, что положительно сказывается на общем уровне безопасности связи и качества предоставляемых услуг. Дополнительно, в документе отражены последние изменения и дополнения, касающиеся новых методов тестирования и обновленных требований к материалам, что обеспечивает актуальность и надежность стандартов.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN EN 62047-6-2010 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials (IEC 62047-6:2009) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 6: Методы испытания усталости осевого типа тонких материалов (IEC 62047-6:2009) PDF DIN EN 62047-5-2012 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches (IEC 62047-5:2011) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 5: Радиочастотные MEMS-переключатели (IEC 62047-5:2011) PDF DIN EN 62047-4-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS (IEC 62047-4:2008) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 4: Общая спецификация для МЭМС (IEC 62047-4:2008) PDF DIN EN 62047-8-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films (IEC 62047-8:2011) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 8: Метод испытания изгиба полосы для измерения свойств сжатия тонких пленок (IEC 62047-8:2011) PDF DIN EN 62047-9-2012 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS (IEC 62047-9:2011) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 9: Измерение прочности соединения между пластинами для МЭМС (IEC 62047-9:2011) PDF DIN EN 62056-21-2003 Electricity metering - Data exchange for meter reading, tariff and load control - Part 21: Direct local data exchange (IEC 62056-21:2002) Учет электроэнергии - Обмен данными для считывания показаний счетчиков, тарифов и управления нагрузкой - Часть 21: Прямой локальный обмен данными (IEC 62056-21:2002)