Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

DIN EN 62047-5-2012 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches (IEC 62047-5:2011) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 5: Радиочастотные MEMS-переключатели (IEC 62047-5:2011)

Название документа
DIN EN 62047-5-2012 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches (IEC 62047-5:2011) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 5: Радиочастотные MEMS-переключатели (IEC 62047-5:2011)
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «DIN EN 62047-5-2012» представляет собой стандарт, регулирующий характеристики и методы испытаний для радиочастотных микромеханических переключателей (RF MEMS). Он предназначен для применения в микроэлектромеханических системах (MEMS) и охватывает важные аспекты разработки и производства полупроводниковых устройств. Этот стандарт был разработан для гармонизации методов и технологий, используемых в различных отраслях, связанных с микроэлектроникой.

Ключевые регламентируемые аспекты включают методы испытаний, параметры производительности и требования по обеспечению надежности RF MEMS переключателей. Стандарт описывает процедуры тестирования, которые должны быть выполнены для доказательства соответствия компонентов заданным характеристикам. Это включает в себя измерение параметров, таких как коэффициент отражения, выходная мощность и характеристики переключения, что критически важно для оценки эксплуатационных свойств устройств.

Среди важных технических деталей документа упоминаются условия испытаний, классификация переключателей, а также методы измерения, которые необходимы для подтверждения соответствующих стандартов. В документе также рассматриваются аспекты повторяемости и воспроизводимости испытаний, что способствует оптимизации производственных процессов и повышению общей эффективности RF MEMS устройств.

Целевая аудитория документа включает производителей полупроводниковых компонентов, научные исследовательские лаборатории и контролирующие органы, заинтересованные в обеспечении качества и безопасности продукции. Стандарт служит основным источником сведения для всех участников процесса разработки и внедрения новых технологий, обеспечивая обширные данные для принятия обоснованных решений.

Практическое значение стандарта заключается в его роли в обеспечении безопасности и повышения качества продукции, а также в гармонизации требований между различными странами и производителями. Он способствует созданию безопасной и эффективной рабочей среды путем определения четких ориентиров для защиты труда и улучшения совместимости различных технологий. Последние обновления в документе зафиксировали ряд поправок, касающихся новых методов тестирования и параметров, что говорит о текущем развитии технологий.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF DIN EN 62047-4-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS (IEC 62047-4:2008) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 4: Общая спецификация для МЭМС (IEC 62047-4:2008) PDF DIN EN 62047-30 E-2016 PDF DIN EN 62047-3-2007 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile-testing (IEC 62047-3:2006) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 3: Тонкие пленки стандартного образца для испытания на растяжение (IEC 62047-3:2006) PDF DIN EN 62047-6-2010 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials (IEC 62047-6:2009) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 6: Методы испытания усталости осевого типа тонких материалов (IEC 62047-6:2009) PDF DIN EN 62047-7-2012 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection (IEC 62047-7:2011) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 7: МЭМС-фильтры и дуплексеры BAW для радиочастотного управления и выбора (IEC 62047-7:2011) PDF DIN EN 62047-8-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films (IEC 62047-8:2011) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 8: Метод испытания изгиба полосы для измерения свойств сжатия тонких пленок (IEC 62047-8:2011)