Top.Mail.Ru
IEC — страница 94 | Информпроект Групп
Продукты и решения
Для специалистов
Сервисное сопровождение
О компании
Для дистрибьюторов
Технологии
Пресс-центр
Отзывы
Контакты
8-800-555-01-33
Звонок по России бесплатный
Более 25 000 000 актуальных правовых
и нормативно-технических документов
Найти документ

Каталог документов

IEC

Стандарты IEC из раздела международных и зарубежных документов.

Перейти к документам

Картотека

Документы раздела

Страница 94 · Показано документов: 20

  9. IEC

    IEC 63068-4-2022 Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and Полупроводниковые устройства - Критерии неразрушающего распознавания дефектов в гомоэпитаксиальных пластинах карбида кремния для силовых устройств - Часть 4: Процедура идентификации и оценки дефектов с использованием комбинированного метода оптической проверки и

    НД 496022165

  10. IEC

    IEC 63068-3-2020 Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence Полупроводниковые устройства - Критерии неразрушающего контроля дефектов в гомоэпитаксиальных пластинах карбидов кремния для силовых устройств - Часть 3: Метод испытаний дефектов с использованием фотолюминесценции

    НД 496022163

  11. IEC

    IEC 63068-2-2019 Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection Полупроводниковые устройства - Критерии неразрушающего контроля дефектов в гомоэпитаксиальных пластинах карбидов кремния для силовых устройств - Часть 2: Метод испытаний дефектов с использованием оптической инспекции

    НД 496022161

  12. IEC

    IEC 63068-1-2019 Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects Полупроводниковые устройства - Критерии неразрушающего контроля дефектов в гомоэпитаксиальных пластинах карбидов кремния для силовых устройств - Часть 1: Классификация дефектов

    НД 496022159

  14. IEC

    IEC 63057-2020 Secondary cells and batteries containing alkaline or other non-acid electrolytes – Safety requirements for secondary lithium batteries for use in road vehicles not for the propulsion Вторичные элементы и аккумуляторы, содержащие щелочные или другие неацидные электролиты – Требования безопасности для вторичных литиевых аккумуляторов для использования в дорожных транспортных средствах, не предназначенных для привода

    НД 496022155

  15. IEC

    IEC 63056-2020 Secondary cells and batteries containing alkaline or other non-acid electrolytes - Safety requirements for secondary lithium cells and batteries for use in electrical energy storage systems Вторичные элементы и аккумуляторы, содержащие щелочные или другие неацидные электролиты - Требования безопасности для вторичных литиевых элементов и аккумуляторов для использования в системах хранения электрической энергии

    НД 496022153