1200011079 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)


     ГОСТ 26239.5-84

Группа В59

     
     
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

КРЕМНИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ И КВАРЦ

Метод определения примесей

Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination


ОКСТУ 1709

Срок действия с 01.01.86
до 01.01.91*
________________________________
* Ограничение срока действия снято
по протоколу N 7-95 Межгосударственного Совета
по стандартизации, метрологии и сертификации
(ИУС N 11, 1995 год). - Примечание изготовителя базы данных.


РАЗРАБОТАН Министерством цветной металлургии СССР

ИСПОЛНИТЕЛИ

Ю.А.Карпов, М.Н.Щулепников, М.К.Винников, Г.Г.Главин, Н.А.Градскова, О.В.Завьялов, Т.И.Зяблова, В.Е.Квин, В.А.Крылов, И.А.Кузовлев, Н.И.Марунина, В.Г.Мискарьянц, В.М.Михайлов, М.Г.Назарова, В.А.Орлова, А.И.Степанов, Н.С.Сысоева, В.И.Фирсов, Г.И.Александрова

ВНЕСЕН Министерством цветной металлургии СССР

Член Коллегии А.П.Снурников

УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 13 июля 1984 г. N 2490

ВНЕСЕНО Изменение N 1, утвержденное и введенное в действие с 01.01.91 постановлением Госстандарта СССР от 26.06.90 N 1847

Изменение N 1 внесено изготовителем базы данных по тексту ИУС N 10, 1990 год

           

Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце в интервалах значений массовых долей примесей:

вольфрама

от 1·10 до 1·10%

галлия

от 2·10 до 1·10%

европия

от 1·10 до 1·10%

железа

от 2·10 до 1·10%

золота

от 1·10 до 1·10%

индия

от 1·10 до 1·10%

кобальта

от 1·10 до 1·10%

лантана

от 1·10 до 1·10%

лютеция

от 1·10 до 1·10%

меди

от 1·10 до 1·10%

молибдена

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)
Номер документа
26239.5-84
Вид документа
Нормативно-технический документ
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «ГОСТ 26239 5 84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей с Изменением N 1» регламентирует методику определения содержания примесей в кремнии и кварце, используемых в полупроводниковой и электронной промышленности. Он предназначен для применения в лабораториях, занимающихся анализом материалов, а также в производственных условиях, где необходим контроль качества полупроводниковых материалов.

Основное внимание в стандарте уделяется методам анализа, параметрам и требованиям, которые должны соблюдаться при проведении испытаний. В документе описываются процедуры, позволяющие точно определить содержание различных примесей, что является критически важным для обеспечения высокой степени чистоты полупроводниковых материалов. Стандарт также устанавливает условия испытаний, включая необходимые оборудование и реактивы, что обеспечивает воспроизводимость результатов.

Ключевыми аспектами являются классификация примесей, методы их количественного определения и допустимые пределы содержания. Важным элементом является спецификация измеряемых величин, таких как концентрация примесей в кремнии и кварце, что позволяет производителям и лабораториям точно оценивать качество исходных материалов. Стандарт также включает рекомендации по подготовке проб и условиям проведения анализов, что способствует улучшению точности и надежности результатов.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых материалов, лаборатории, осуществляющие контроль качества, а также регулирующие органы, отвечающие за соблюдение стандартов безопасности и качества. Стандарт служит основой для разработки внутренних процедур контроля качества на предприятиях, а также для сертификации продукции, что в свою очередь способствует повышению доверия со стороны потребителей и улучшению конкурентоспособности на рынке.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество полупроводниковых изделий, которые широко используются в электронике, энергетике и других отраслях. Соблюдение требований данного документа способствует снижению рисков, связанных с использованием низкокачественных материалов, что в свою очередь улучшает эксплуатационные характеристики конечной продукции. Изменения, внесенные в стандарт, касаются уточнения методов и условий испытаний, что позволяет более точно соответствовать современным требованиям к качеству и безопасности.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»