Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS EN 62047-1-2016 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Part 1: Terms and definitions Полупроводниковые устройства Микроэлектромеханические устройства Часть 1: Термины и определения

Название документа
BS EN 62047-1-2016 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Part 1: Terms and definitions Полупроводниковые устройства Микроэлектромеханические устройства Часть 1: Термины и определения
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS EN 62047-1:2016» описывает термины и определения, используемые в области полупроводниковых микроэлектромеханических устройств (MEMS). Основное назначение стандарта заключается в унификации терминологии, что способствует обеспечению совместимости и понимания в научных и коммерческих приложениях. Стандарт применяется как в научных исследованиях, так и в промышленном производстве таких устройств.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми данным стандартом, являются определения базовых понятий, связанных с MEMS, а также методы и параметры, используемые для их характеристики. Важные процедуры, такие как испытания на надежность и факторы, оказывающие влияние на производительность устройств, также освещаются в документе. Это позволяет производителям и исследователям правильно интерпретировать данные и проводить сопоставимые испытания.

Документ включает технические детали, касающиеся условий испытаний и классификаций, которые необходимы для стандартного измерения и оценки характеристик MEMS. Например, обсуждаются измеряемые величины, связанные с механическими и электрическими свойствами, которые критически важны для определения функциональности и надежности устройств. Эти аспекты гарантируют высокое качество продукции и соответствие современным требованиям.

Целевая аудитория данной документации охватывает производителей MEMS, исследовательские лаборатории и контролирующие органы, а также специалистов, занимающихся разработкой и тестированием подобных технологий. Освещая ключевые аспекты и требования, стандарт направлен на содействие в повышении уровня компетентности среди специалистов в данной области.

Практическое значение стандарта заключается в обеспечении безопасности и качества полупроводниковых микроэлектромеханических устройств. Его требования помогают минимизировать риски, связанные с эксплуатацией и техническим обслуживанием, а также способствуют лучшей интеграции MEMS в различные системы. Также важно отметить, что документ непрерывно обновляется, чтобы отражать новейшие достижения и изменения в области технологий MEMS.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF BS EN 62044-3-2001 + AC-2021 PDF BS EN 62044-2-2005 Cores made of soft magnetic materials - Measuring methods - Part 2: Magnetic properties at low excitation level Ядра из мягких магнитных материалов - Методы измерения - Часть 2: Магнитные свойства при низком уровне возбуждения PDF BS EN 62044-1-2002 Cores made of soft magnetic materials - Measuring methods - Part 1: Generic specification Ядра из материалов мягкого магнитного типа - Методы измерения - Часть 1: Общая спецификация PDF BS EN 62047-10-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства Часть 10: Тест сжатия микропалочки для материалов МЭМС PDF BS EN 62047-11-2013 Semiconductor devices — Micro-electromechanical devices Part 11: Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems Полупроводниковые устройства — Микроэлектромеханические устройства Часть 11: Метод испытания коэффициентов линейного термического расширения для свободных материалов микроразмерных систем PDF BS EN 62047-12-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства Часть 12: Метод испытания на усталость изгиба тонких материалов с использованием резонансного колебания структур MEMS