Открыть бургер меню.
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS EN 62047-12-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures

Название документа
BS EN 62047-12-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS EN 62047-12-2011» описывает методы испытаний на изгибную усталость для тонкопленочных материалов с использованием резонансных вибраций структур микроэлектромеханических систем (MEMS). Основное назначение стандарта заключается в обеспечении регулируемого способа оценки механических свойств материалов, применяемых в полупроводниковых устройствах, что особенно важно в сферах электроники и микроэлектроники.

Стандарт регламентирует методы испытаний, параметры и требования к процессу оценки. В частности, он определяет процедуру подготовки образцов, критерии выбора условий испытаний, такие как температура и частота резонансных вибраций, а также предельно допустимые значения для различных материалов. Эти аспекты критически важны для получения воспроизводимых и надежных результатов.

Кроме того, документ включает важные технические детали, такие как классификация материалов по их механическим свойствам и измеряемые величины во время испытаний. Он также подчеркивает условия, при которых проводятся испытания, включая использование соответствующего оборудования и соблюдение методов безопасности, что обеспечивает целостность проведения испытаний.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, научно-исследовательские лаборатории и контролирующие органы. Участники данной сферы могут использовать рекомендации и методы, указанные в документе, для улучшения процессов разработки и тестирования продукции, повышая её конкурентоспособность на рынке.

Практическое значение стандарта проявляется в его влиянии на безопасность, качество и производительность полупроводниковых устройств. Он способствует гармонизации требований к материалам, что, в свою очередь, улучшает совместимость различных компонентов и поддерживает стандарты охраны труда в производственной среде. В документе не содержится значительных изменений или дополнений по сравнению с предыдущими версиями, что подтверждает стабильность и актуальность предложенных методов.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.

Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.

Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.