Открыть бургер меню.
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS EN 62047-14-2012 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials

Название документа
BS EN 62047-14-2012 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ "BS EN 62047-14-2012" посвящён полупроводниковым устройствам и микромеханическим устройствам, предлагая метод измерения предела формования металлических плёнок. Основная цель данного стандарта заключается в установлении определённых методологических основ для обеспечения согласованности в проведении испытаний и оценки характеристик металлических плёнок на микроуровне в различных приложениях.

Стандарт регулирует ключевые аспекты, включая методы испытаний, параметры, применяемые для измерений, а также требования к образцам. В частности, акцент сделан на повторяемость результатов и корректность методик, что в свою очередь обеспечивает важный уровень качества в производственном процессе и контроле за качеством продукции, основанной на полупроводниковых технологиях.

Важные технические детали стандарта касаются условий испытаний, классификации образцов и измеряемых величин, таких как прочность, эластичность и долговечность плёнок. Документ определяет протоколы для выполнения тестов, включая рекомендуемые анализаторы и параметры тестирования, что позволяет создавать условия для получения значимых и воспроизводимых результатов.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, лаборатории, ответственные за испытания, а также контролирующие органы, занимающиеся сертификацией. Это позволяет обеспечить полное понимание и внедрение стандарта в профессиональную практику, тем самым способствуя общему повышению уровня безопасности и качества на рынке полупроводниковых технологий.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и совместимость технологических процессов, связанных с созданием и тестированием полупроводниковых устройств. Обеспечение высоких стандартов качества в этой области критично для успешной интеграции в современные технологические цепочки, минимизируя риски и повышая общую эффективность производства.

В версии 2012 года стандарта были учтены изменения, касающиеся обновлённой методологии измерений и расширения спектра применяемых материалов. Эти дополнения делают документ актуальным и соответствующим современным требованиям, способствуя более точной и надёжной оценке металлических плёнок в микромеханических устройствах.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.

Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.

Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.