Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS EN 62047-10-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства Часть 10: Тест сжатия микропалочки для материалов МЭМС

Название документа
BS EN 62047-10-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства Часть 10: Тест сжатия микропалочки для материалов МЭМС
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS EN 62047-10-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials» определяет методы испытаний, предназначенные для оценки прочности материалов, используемых в микроэлектромеханических системах (MEMS). Основное назначение документа заключается в стандартизации процедуры испытания микропиллеров на сжатие, что обеспечивает контроль качества и надежности MEMS-устройств.

Основными аспектами, регламентируемыми в документе, являются методики измерения и требования к оборудованию, необходимому для проведения испытаний. В частности, документ описывает параметры тестирования, такие как скорость сжатия, условия окружающей среды и спецификации используемых образцов. Эти аспекты критически важны для обеспечения воспроизводимости и точности результатов испытаний.

Технические детали, касающиеся испытательных условий, включают контроль температуры и влажности, которые могут влиять на характеристики материалов. Кроме того, документ уточняет измеряемые величины, например, величину нагрузки и деформацию образцов, что необходимо для анализа их механических свойств. Классификация материалов и методов испытания прописана для различных типов MEMS-устройств, что позволяет применять стандарт к широкому спектру изделий.

Целевой аудиторией данного стандарта являются производители MEMS, испытательные лаборатории и контролирующие органы, которые осуществляют оценку и сертификацию продукции. Стандарт служит основой для разработки и внедрения новых технологий, а также для обеспечения согласованности в области проектирования и производства. Его использование позволяет специалистам отрасли уверенно применять результаты тестирования в процессах контроля качества.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость MEMS-устройств, что в свою очередь сказывается на условиях труда и охране окружающей среды. Стандарт способствует повышению доверия потребителей к продуктам, отвечающим его требованиям. Любые изменения или дополнения к документу базируются на новейших научных данных и технических достижениях, что делает его актуальным и полезным для специалистов в данной области.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF BS EN 62047-1-2016 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Part 1: Terms and definitions Полупроводниковые устройства Микроэлектромеханические устройства Часть 1: Термины и определения PDF BS EN 62044-3-2001 + AC-2021 PDF BS EN 62044-2-2005 Cores made of soft magnetic materials - Measuring methods - Part 2: Magnetic properties at low excitation level Ядра из мягких магнитных материалов - Методы измерения - Часть 2: Магнитные свойства при низком уровне возбуждения PDF BS EN 62047-11-2013 Semiconductor devices — Micro-electromechanical devices Part 11: Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems Полупроводниковые устройства — Микроэлектромеханические устройства Часть 11: Метод испытания коэффициентов линейного термического расширения для свободных материалов микроразмерных систем PDF BS EN 62047-12-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства Часть 12: Метод испытания на усталость изгиба тонких материалов с использованием резонансного колебания структур MEMS PDF BS EN 62047-13-2012 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 13: Bend-and shear-type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства Часть 13: Методы измерения адгезионной прочности изгиба и сдвига для конструкций МЭМС