Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS EN 62047-5-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 5: RF MEMS switches - CORR: April 30, 2013 Полупроводниковые устройства - Микромеханические устройства Часть 5: RF MEMS переключатели - CORR: 30 апреля 2013

Название документа
BS EN 62047-5-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 5: RF MEMS switches - CORR: April 30, 2013 Полупроводниковые устройства - Микромеханические устройства Часть 5: RF MEMS переключатели - CORR: 30 апреля 2013
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS EN 62047-5-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 5: RF MEMS switches - CORR: April 30, 2013» определяет требования и методы испытаний для радиочастотных MEMS переключателей. Он предназначен для производителей, исследовательских лабораторий и организаций, осуществляющих контроль качества в области полупроводниковых устройств. Основная цель документа заключается в обеспечении совместимости и надежности MEMS переключателей в различных приложениях.

В документе регламентируются ключевые аспекты, такие как методы испытаний, параметры работоспособности и условия эксплуатации RF MEMS переключателей. Основное внимание уделяется критериям качества, которые позволяют оценить производительность устройств в заданных условиях. Важными элементами являются также характеристики, подлежащие измерению, включая параметры электрической проводимости и механической устойчивости.

Документ также охватывает условия испытаний, необходимые для проверки эксплуатационных характеристик переключателей. Это включает в себя описания испытательной среды, методы и последовательность проведения тестов. Классификация MEMS переключателей, а также измеряемые величины, такие как частота переключения и срок службы, являются ключевыми для понимания их функциональных возможностей.

Целевая аудитория стандарта включает как производителей компонентов, так и научные учреждения, занимающиеся разработкой новых технологий. Лаборатории, проводящие тестирования, также будут использовать этот стандарт как руководство к действию для адекватной оценки качества исследуемых изделий. Важно, что стандарт адресован не только техническим специалистам, но и менеджерам в области качества и контроля.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество конечных продуктов, использующих RF MEMS переключатели. Соблюдение данного стандарта способствует улучшению рабочих характеристик устройств, а также минимизации рисков, связанных с их эксплуатацией. Изменения и дополнения, внесенные в стандарт с момента его первоначального выпуска, направлены на уточнение методов испытаний и требования к функциональным параметрам, что делает его более актуальным для современного применения.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF BS EN 62047-4-2010 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 4: Generic specification for MEMS Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства Часть 4: Общая спецификация для МЭМС PDF BS EN 62047-3-2006 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 3: Тонкие пленки стандартных образцов для растяжения PDF BS EN 62047-26-2016 Semiconductor devices — Micro-electromechanical devices Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures Полупроводниковые устройства — Микроэлектромеханические устройства Часть 26: Описание и методы измерения микротраншей и микропинов PDF BS EN 62047-6-2010 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials Полупроводниковые устройства - Микромеханические устройства Часть 6: Методы испытания усталости тонких материалов на оси PDF BS EN 62047-7-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection Полупроводниковые устройства - Микромеханические устройства Часть 7: Фильтры и дуплексеры BAW MEMS для управления и выбора радиочастот PDF BS EN 62047-8-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films Полупроводниковые устройства - Микромеханические устройства Часть 8: Метод испытания изгиба полосы для измерения механических свойств тонких пленок