Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS EN 62047-4-2010 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 4: Generic specification for MEMS Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства Часть 4: Общая спецификация для МЭМС

Название документа
BS EN 62047-4-2010 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 4: Generic specification for MEMS Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства Часть 4: Общая спецификация для МЭМС
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS EN 62047-4-2010» представляет собой стандарт, посвящённый полупроводниковым устройствам и микромеханическим системам (MEMS). Этот нормативный акт устанавливает общие спецификации для проектирования и разработки MEMS, определяя их основное назначение и сферы применения в различных отраслях, включая электронные системы и сенсоры.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми стандартом, являются методы испытаний, параметры производительности и требования к процессу сертификации микромеханических устройств. Документ детализирует процедуры, необходимые для оценки функциональных характеристик и надёжности MEMS, с акцентом на воспроизводимость результатов испытаний.

Технические детали, охваченные стандартом, включают условия испытаний, классификацию MEMS по различным критериям и измеряемые величины, такие как чувствительность, стабильность и температурные характеристики. Эти сведения обеспечивают производителям и исследовательским лабораториям необходимую информацию для эффективного тестирования продукции и внедрения новшеств.

Целевая аудитория стандарта включает в себя производителей MEMS, исследовательские лаборатории, а также контрольные органы, ответственные за соответствие продукции установленным нормам. Стандарт служит ориентиром для проектов, связанных с интеграцией микромеханических систем в более сложные электронные устройства.

Практическое значение «BS EN 62047-4-2010» заключается в повышении безопасности и качества MEMS, а также в улучшении условий охраны труда при их использовании. Стандарт способствует взаимодействию различных производителей, обеспечивая совместимость и унификацию методов испытаний. При наличии изменений в документе, обновления касаются уточнения методов тестирования и дополнения перечня регламентируемых характеристик, что содействует актуализации знаний в сфере разработки микромеханических систем.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF BS EN 62047-3-2006 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 3: Тонкие пленки стандартных образцов для растяжения PDF BS EN 62047-26-2016 Semiconductor devices — Micro-electromechanical devices Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures Полупроводниковые устройства — Микроэлектромеханические устройства Часть 26: Описание и методы измерения микротраншей и микропинов PDF BS EN 62047-25-2016 Semiconductor devices — Micro-electromechanical devices Part 25: Silicon based MEMS fabrication technology — Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area Полупроводниковые устройства — Микроэлектромеханические устройства Часть 25: Технология изготовления МЭМС на основе кремния — Метод измерения сжато-растягивающей и сдвиговой прочности микросвязи PDF BS EN 62047-5-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 5: RF MEMS switches - CORR: April 30, 2013 Полупроводниковые устройства - Микромеханические устройства Часть 5: RF MEMS переключатели - CORR: 30 апреля 2013 PDF BS EN 62047-6-2010 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials Полупроводниковые устройства - Микромеханические устройства Часть 6: Методы испытания усталости тонких материалов на оси PDF BS EN 62047-7-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection Полупроводниковые устройства - Микромеханические устройства Часть 7: Фильтры и дуплексеры BAW MEMS для управления и выбора радиочастот