Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS EN 62047-26-2016 Semiconductor devices — Micro-electromechanical devices Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures Полупроводниковые устройства — Микроэлектромеханические устройства Часть 26: Описание и методы измерения микротраншей и микропинов

Название документа
BS EN 62047-26-2016 Semiconductor devices — Micro-electromechanical devices Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures Полупроводниковые устройства — Микроэлектромеханические устройства Часть 26: Описание и методы измерения микротраншей и микропинов
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS EN 62047-26-2016» описывает стандарты для полупроводниковых устройств, в частности, микромеханических устройств (MEMS). Он предназначен для применения в различных областях, включая производство полупроводников и разработку новых технологий, где важна высокая точность измерений и описание структур. Основная цель документа заключается в установлении единых методик и параметров, необходимых для характеристик микро-траншей и игольчатых структур.

В документе регламентируются различные аспекты, такие как методики измерений, параметры и требования к оценке производительности микро-траншей и игольчатых структур. Присутствуют детализированные процедуры, которые необходимо использовать в ходе испытаний, что способствует созданию надежных и воспроизводимых результатов. Важным аспектом является также определение условий испытаний и классификаций, которые дают представление о том, какие величины измеряются и как проводить их оценку.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории, а также контрольные органы, заинтересованные в проверке соответствия выпускаемой продукции. Стандарт служит важным инструментом, обеспечивающим единообразие в практиках и методах испытаний, что особенно актуально в условиях глобализированного рынка. Он также предоставляет разработчикам и производителям необходимые инструменты для повышения качества и надежности своих изделий.

Практическое значение стандарта «BS EN 62047-26-2016» проявляется в его влиянии на безопасность, качество и охрану труда в сфере микромеханических устройств. Установленные требования способствуют улучшению совместимости и надежности продукции, что в конечном итоге положительно сказывается на удовлетворенности потребителей. Документ также может включать обновления и дополнения, направленные на адаптацию к новым технологиям и изменениям в производственных процессах, что подчеркивает его актуальность и важность для профессиональной аудитории.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF BS EN 62047-25-2016 Semiconductor devices — Micro-electromechanical devices Part 25: Silicon based MEMS fabrication technology — Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area Полупроводниковые устройства — Микроэлектромеханические устройства Часть 25: Технология изготовления МЭМС на основе кремния — Метод измерения сжато-растягивающей и сдвиговой прочности микросвязи PDF BS EN 62047-22-2014 Semiconductor devices — Micro-electromechanical devices Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates Полупроводниковые устройства — Микроэлектромеханические устройства Часть 22: Метод электромеханического испытания на растяжение для тонких пленок на гибких субстратах PDF BS EN 62047-21-2014 Semiconductor devices — Micro-electromechanical devices Part 21: Test method for Poisson’s ratio of thin film MEMS materials Полупроводниковые устройства — Микроэлектромеханические устройства Часть 21: Метод испытаний для коэффициента Пуассона тонких плёнок материалов МЭМС PDF BS EN 62047-3-2006 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 3: Тонкие пленки стандартных образцов для растяжения PDF BS EN 62047-4-2010 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 4: Generic specification for MEMS Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства Часть 4: Общая спецификация для МЭМС PDF BS EN 62047-5-2011 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 5: RF MEMS switches - CORR: April 30, 2013 Полупроводниковые устройства - Микромеханические устройства Часть 5: RF MEMS переключатели - CORR: 30 апреля 2013