495963315 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS IEC 60747-19-1-2019 Semiconductor devices Part 19-1: Smart sensors – Control scheme of smart sensors Полупроводниковые устройства Часть 19-1: Умные датчики – Схема управления умными датчиками

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
BS IEC 60747-19-1-2019 Semiconductor devices Part 19-1: Smart sensors – Control scheme of smart sensors Полупроводниковые устройства Часть 19-1: Умные датчики – Схема управления умными датчиками
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS IEC 60747-19-1-2019» предназначен для разработки и применения смарт-датчиков в различных областях, включая автоматизацию, мониторинг и управление. Он предоставляет основные принципы контроля, которые обеспечивают эффективное взаимодействие между смарт-датчиками и их управляющими системами. Основная цель стандарта заключается в унификации подходов к контролю и обеспечению совместимости различных устройств.

Ключевыми аспектами документа являются методы функционирования смарт-датчиков, включая алгоритмы обработки данных и стандарты передачи информации. Также регламентируются параметры, такие как чувствительность, точность и надежность измеряемых величин. Существуют требования к условиям испытаний, что помогает гарантировать соответствие устройств перечисленным характеристикам и нормам безопасности.

Важно отметить, что стандарт определяет специфические процедуры измерений и требований к классификации устройств. В документе также освещаются методы тестирования, которые помогают определить соответствие смарт-датчиков установленным критериям. Это делает его актуальным как для производителей, так и для лабораторий, занимающихся оценкой качества продукции.

Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, заинтересованные в качестве и безопасности смарт-датчиков. Они могут использовать данный стандарт как основу для разработки новых технологий и улучшения существующих процессов. Это результативно сказывается на повышении уровня безопасности и качества с точки зрения охраны труда и совместимости устройств во всемирной практике.

Среди изменений, внесенных в данный стандарт, отмечаются уточнения в методах испытаний и требованиях к измеряемым величинам. Эти поправки направлены на улучшение точности и надежности оценки смарт-датчиков, что в свою очередь способствует повышению их безопасности и эффективности в применении. Стандарт служит важным звеном в поддержании высоких стандартов в производстве и использовании смарт-датчиков.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-18-3-2019 Semiconductor devices - Part 18-3: Semiconductor bio sensors - Fluid flow characteristics of lens-free CMOS photonic array sensor package modules with fluidic system Полупроводниковые устройства - Часть 18-3: Полупроводниковые биосенсоры - Характеристики потока жидкости для модулей без линз CMOS фотонных массивов датчиков с гидравлической системой PDF BS IEC 60747-18-2-2020 Semiconductor devices Part 18-2: Semiconductor bio sensors - Evaluation process of lens-free CMOS photonic array sensor package modules Полупроводниковые устройства Часть 18-2: Полупроводниковые биосенсоры - Процесс оценки безлинзовых модулей CMOS фотонных массивов PDF BS IEC 60747-18-1-2019 Semiconductor devices Part 18-1: Semiconductor bio sensors — Test method and data analysis for calibration of lens-free CMOS photonic array sensors Полупроводниковые устройства Часть 18-1: Полупроводниковые биосенсоры — Метод испытаний и анализ данных для калибровки безлинзовых CMOS фотонных массивов сенсоров PDF IEC 60747-2-2016 Semiconductor devices - Part 2: Discrete devices - Rectifier diodes Полупроводниковые устройства - Часть 2: Дискретные устройства - Диоды выпрямления PDF IEC 60747-3-2013 Semiconductor devices – Part 3: Discrete devices: Signal, switching and regulator diodes Полупроводниковые устройства – Часть 3: Дискретные устройства: Диоды сигналов, переключения и регулирования PDF BS IEC 60747-4-2007 + A1-2017