495963317 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60747-2-2016 Semiconductor devices - Part 2: Discrete devices - Rectifier diodes Полупроводниковые устройства - Часть 2: Дискретные устройства - Диоды выпрямления

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 60747-2-2016 Semiconductor devices - Part 2: Discrete devices - Rectifier diodes Полупроводниковые устройства - Часть 2: Дискретные устройства - Диоды выпрямления
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60747-2-2016 Semiconductor devices - Part 2: Discrete devices - Rectifier diodes» представляет собой стандарт, касающийся полупроводниковых устройств в виде дискретных компонентов, в частности диодов выпрямительных. Его основное назначение заключается в установлении единых требований к конструкции, характеристикам и оценке таких устройств, что способствует обеспечению их надежной работы в различных электрических схемах. Стандарт применяется в производстве и тестировании выпрямительных диодов, обеспечивая их соответствие заранее установленным критериям.

Ключевыми регламентируемыми аспектами документа являются методы испытаний, параметры, которые необходимо учитывать при производстве, и требования к контролю качества выпрямительных диодов. В частности, стандарт описывает процедуры проведения испытаний, таких как измерение прерывистого и постоянного тока, а также условия, в которых должны проводиться эти испытания. Важным аспектом является также указание предельных значений выходных параметров, которые должны быть достигнуты для подтверждения выполнения требований стандарта.

Документ ориентирован на широкий круг специалистов, включая производителей полупроводниковых устройств, лаборатории, занимающиеся тестированием и сертификацией, а также контролирующие органы, ответственные за соблюдение стандартов. Стандарт существенно улучшает качество продукции, снижает риски, связанные с эксплуатацией, и помогает в обеспечении безопасности конечных пользователей, а также повышает уровень международной совместимости изделий.

Практическое значение стандарта лежит в его влиянии на качество и безопасность использования выпрямительных диодов в электрических устройствах. Соответствие всем изложенным требованиям позволяет обеспечить стабильную работу диодов и, как следствие, способствует повышению надежности функционирования целых систем. Стандарт также включает последние изменения и дополнения, касающиеся новых методов испытаний, что позволяет актуализировать информацию и обеспечить необходимый уровень качества продукции в соответствии с современными требованиями.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF BS IEC 60747-19-1-2019 Semiconductor devices Part 19-1: Smart sensors – Control scheme of smart sensors Полупроводниковые устройства Часть 19-1: Умные датчики – Схема управления умными датчиками PDF IEC 60747-18-3-2019 Semiconductor devices - Part 18-3: Semiconductor bio sensors - Fluid flow characteristics of lens-free CMOS photonic array sensor package modules with fluidic system Полупроводниковые устройства - Часть 18-3: Полупроводниковые биосенсоры - Характеристики потока жидкости для модулей без линз CMOS фотонных массивов датчиков с гидравлической системой PDF BS IEC 60747-18-2-2020 Semiconductor devices Part 18-2: Semiconductor bio sensors - Evaluation process of lens-free CMOS photonic array sensor package modules Полупроводниковые устройства Часть 18-2: Полупроводниковые биосенсоры - Процесс оценки безлинзовых модулей CMOS фотонных массивов PDF IEC 60747-3-2013 Semiconductor devices – Part 3: Discrete devices: Signal, switching and regulator diodes Полупроводниковые устройства – Часть 3: Дискретные устройства: Диоды сигналов, переключения и регулирования PDF BS IEC 60747-4-2007 + A1-2017 PDF IEC 60747-5-10-2019 Semiconductor devices - Part 5-10: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference point Полупроводниковые устройства - Часть 5-10: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний внутренней квантовой эффективности на основе эталонной точки комнатной температуры