495963323 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60747-5-10-2019 Semiconductor devices - Part 5-10: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference point Полупроводниковые устройства - Часть 5-10: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний внутренней квантовой эффективности на основе эталонной точки комнатной температуры

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 60747-5-10-2019 Semiconductor devices - Part 5-10: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference point Полупроводниковые устройства - Часть 5-10: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний внутренней квантовой эффективности на основе эталонной точки комнатной температуры
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60747-5-10-2019» посвящён методам испытаний оптоэлектронных устройств, в частности светодиодов, с целью оценки их внутренней квантовой эффективности. Он служит стандартом для производителей и лабораторий, занимающихся разработкой и тестированием светодиодов, определяя унифицированный подход для всех участников отрасли. Этот стандарт направлен на улучшение качества и надёжности продукции в области полупроводниковых технологий.

Основным регламентируемым аспектом является методика испытания внутренней квантовой эффективности на основании температуры окружающей среды. Документ детализирует параметры теста, включая настройку оборудования и условия, при которых проводятся измерения, что обеспечивает минимизацию ошибок и повышение точности результатов. Важным моментом является использование определённых условий света и температурных режимов, что критично для достижения оптимальных экспериментальных условий.

Ключевыми техническими деталями являются условия проведения испытаний, такие как температура, интенсивность света и применение определённых измерительных приборов. Метод позволяет классифицировать и оценивать эффективность светодиодов, определяя их потенциал для использования в различных приложениях. Измеряемые величины включают светоотдачу и изменение внутренней квантовой эффективности в зависимости от условий эксплуатации, что важно для инженеров и разработчиков.

Целевой аудиторией данного документа являются производители светодиодов, исследовательские лаборатории и контролирующие органы, которым необходимо следить за соответствием продукции установленным стандартам. К стандарту должны обращаться все, кто вовлечён в разработку и испытания новых оптоэлектронных устройств, чтобы обеспечить надёжность и безопасность конечного продукта.

Практическое значение стандарта заключается в улучшении качества и безопасности светодиодов, что имеет прямое влияние на их эксплуатационные характеристики и долговечность. Стандарт способствует улучшению совместимости различных устройств, что важно для конечного потребителя. Кроме того, изменения в документе могут касаться корректировок в процедурах испытаний и дополнений к требованиям, что делает его актуальным для постоянного мониторинга и внедрения в промышленность.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF BS IEC 60747-4-2007 + A1-2017 PDF IEC 60747-3-2013 Semiconductor devices – Part 3: Discrete devices: Signal, switching and regulator diodes Полупроводниковые устройства – Часть 3: Дискретные устройства: Диоды сигналов, переключения и регулирования PDF IEC 60747-2-2016 Semiconductor devices - Part 2: Discrete devices - Rectifier diodes Полупроводниковые устройства - Часть 2: Дискретные устройства - Диоды выпрямления PDF IEC 60747-5-11-2019 Semiconductor devices - Part 5-11: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes Полупроводниковые устройства - Часть 5-11: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний радиационных и нерадиационных токов лазерных диодов PDF IEC 60747-5-13-2021 Semiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages Полупроводниковые устройства - Часть 5-13: Оптоэлектронные устройства - Тест на коррозию водородным сульфидом для корпусов светодиодов PDF IEC 60747-5-15-2022 Semiconductor devices - Part 5-15: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy Полупроводниковые устройства - Часть 5-15: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний напряжения плоского уровня на основе спектроскопии электроотражения