495963327 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60747-5-13-2021 Semiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages Полупроводниковые устройства - Часть 5-13: Оптоэлектронные устройства - Тест на коррозию водородным сульфидом для корпусов светодиодов

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 60747-5-13-2021 Semiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages Полупроводниковые устройства - Часть 5-13: Оптоэлектронные устройства - Тест на коррозию водородным сульфидом для корпусов светодиодов
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60747-5-13-2021 Semiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages» предназначен для регулирования испытаний на коррозию слоев светодиодов, защищающих их от воздействия сероводорода. Он охватывает важные аспекты, касающиеся методов тестирования, а также требований к условиям эксплуатации и материалам, что делает его незаменимым для производителей и исследователей в области оптоэлектронных устройств.

Ключевыми регламентируемыми аспектами документа являются методы проведения испытаний, параметры, подлежащие измерению, и требования к проведению тестов, в том числе продолжительность испытаний и уровни концентрации сероводорода. Выявление изменений в производственных процессах и обеспечении соответствия данным практикам является необходимым для достижения высоких стандартов качества и долговечности LED-пакетов.

Испытания проводятся в строго контролируемых условиях, требующих соблюдения определенных температурных и влажностных режимов. Классификации материалов и компонентов определяют их устойчивость к воздействию агрессивной среды, что упрощает выбор наилучших решений для дальнейшего использования. Измеряемыми величинами служат степень коррозии и целостность структуры, что позволяет оценить долговечность светодиодов.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей оптоэлектронных устройств, лаборатории, занимающиеся тестированием их характеристик, а также контрольные органы, ответственные за соблюдение установленных норм. Таким образом, документ служит основой для обеспечения безопасности и качества производимого оборудования, способствуя созданию надежных и совместимых продуктов на рынке.

Практическое значение стандарта заключается в его воздействии на повышение уровня качества продукции, улучшение условий труда, а также повышении безопасности конечных пользователей. Его внедрение позволит не только оптимизировать производственные процессы, но и снизить риски, связанные с эксплуатацией электросветотехнических изделий. Изменения и дополнения к предыдущим версиям документа направлены на усиление методов тестирования и введение дополнительных требований к техническим условиям.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-5-11-2019 Semiconductor devices - Part 5-11: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes Полупроводниковые устройства - Часть 5-11: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний радиационных и нерадиационных токов лазерных диодов PDF IEC 60747-5-10-2019 Semiconductor devices - Part 5-10: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference point Полупроводниковые устройства - Часть 5-10: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний внутренней квантовой эффективности на основе эталонной точки комнатной температуры PDF BS IEC 60747-4-2007 + A1-2017 PDF IEC 60747-5-15-2022 Semiconductor devices - Part 5-15: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy Полупроводниковые устройства - Часть 5-15: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний напряжения плоского уровня на основе спектроскопии электроотражения PDF BS IEC 60747-5-4-2022 Semiconductor devices Part 5-4: Optoelectronic devices - Semiconductor lasers Полупроводниковые устройства Часть 5-4: Оптоэлектронные устройства - Полупроводниковые лазеры PDF IEC 60747-5-8-2019 Semiconductor devices - Part 5-8: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of optoelectronic efficiencies of light emitting diodes Полупроводниковые устройства - Часть 5-8: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний оптоэлектронной эффективности лазерных диодов