495963329 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60747-5-15-2022 Semiconductor devices - Part 5-15: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy Полупроводниковые устройства - Часть 5-15: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний напряжения плоского уровня на основе спектроскопии электроотражения

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 60747-5-15-2022 Semiconductor devices - Part 5-15: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy Полупроводниковые устройства - Часть 5-15: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний напряжения плоского уровня на основе спектроскопии электроотражения
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60747-5-15-2022» предназначен для описания испытаний светодиодов с использованием метода электроотражательной спектроскопии. Основная цель стандарта заключается в установлении единого подхода к измерению плоского напряжения на основе электрофизических характеристик светодиодов, что позволяет обеспечить их качество и надёжность. Сфера применения этого документа охватывает производителей оптоэлектронных устройств, научные лаборатории и контролирующие органы, занимающиеся сертификацией таких изделий.

Стандарт регламентирует методы испытаний, включая измерения плоского напряжения и параметры, необходимые для их выполнения. Важными аспектами является определение условий, при которых проводятся испытания, а также критерии для оценки результатов. Параметры включают температурные условия, интенсивность освещения и характеристики материалов, используемых в производстве светодиодов.

Целевая аудитория включает как производителей светодиодов, так и лаборатории, проводящие испытания, а также контролирующие органы, заинтересованные в обеспечении соблюдения технологий и стандартов качества. Это обеспечивает надежность результатов измерений, необходимую для соответствия продукции современным требованиям безопасности и производительности.

Практическое значение стандарта заключается в улучшении безопасности и качества оптоэлектронных устройств, что в свою очередь, влияет на безопасность пользователей. Способы, указанные в документе, помогают добиться большей совместимости между различными устройствами и системами. Изменения в версии 2022 года включают уточнение методов испытания и требований к оборудованию, обеспечивающие более точные и воспроизводимые результаты.

Таким образом, «IEC 60747-5-15-2022» представляет собой важный инструмент для повышения качества и безопасности светодиодов, способствуя более широкому внедрению технологий и разработок в области оптоэлектроники.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-5-13-2021 Semiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages Полупроводниковые устройства - Часть 5-13: Оптоэлектронные устройства - Тест на коррозию водородным сульфидом для корпусов светодиодов PDF IEC 60747-5-11-2019 Semiconductor devices - Part 5-11: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes Полупроводниковые устройства - Часть 5-11: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний радиационных и нерадиационных токов лазерных диодов PDF IEC 60747-5-10-2019 Semiconductor devices - Part 5-10: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference point Полупроводниковые устройства - Часть 5-10: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний внутренней квантовой эффективности на основе эталонной точки комнатной температуры PDF BS IEC 60747-5-4-2022 Semiconductor devices Part 5-4: Optoelectronic devices - Semiconductor lasers Полупроводниковые устройства Часть 5-4: Оптоэлектронные устройства - Полупроводниковые лазеры PDF IEC 60747-5-8-2019 Semiconductor devices - Part 5-8: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of optoelectronic efficiencies of light emitting diodes Полупроводниковые устройства - Часть 5-8: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний оптоэлектронной эффективности лазерных диодов PDF IEC 60747-5-9-2019 Semiconductor devices - Part 5-9: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the temperature-dependent electroluminescence Полупроводниковые устройства - Часть 5-9: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний внутренней квантовой эффективности на основе температурно-зависимой электролюминесценции