495963331 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS IEC 60747-5-4-2022 Semiconductor devices Part 5-4: Optoelectronic devices - Semiconductor lasers Полупроводниковые устройства Часть 5-4: Оптоэлектронные устройства - Полупроводниковые лазеры

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
BS IEC 60747-5-4-2022 Semiconductor devices Part 5-4: Optoelectronic devices - Semiconductor lasers Полупроводниковые устройства Часть 5-4: Оптоэлектронные устройства - Полупроводниковые лазеры
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS IEC 60747-5-4-2022» определяет стандарты для полупроводниковых устройств, в частности, оптоэлектронных устройств, включая полупроводниковые лазеры. Основное назначение документа заключается в установлении требований к проектированию, производству и испытаниям этих устройств, гарантируя их надежность и эффективность в различных применениях, таких как лазерная печать, оптоволоконная связь и промышленные лазеры.

Среди ключевых аспектов, регламентируемых в стандарте, можно выделить методы испытаний, спецификации параметров, такие как длина волны, выходная мощность и характеристики модуляции. Также он описывает процедуры для оценки устойчивости лазеров к внешним воздействиям, таким как температура, влага и механические нагрузки. Эти аспекты важны для обеспечения должного уровня производительности в различных операционных условиях.

Важными техническими деталями являются условия испытаний, включая температуру, влажность и сроки, которые должны соблюдаться для получения точных результатов. Стандарт также рассматривает классификации лазеров по их параметрам, что позволяет разработчикам и производителям эффективно выбирать подходящие лазеры для конкретных задач. Измеряемые величины включают мощность, интенсивность и спектр излучения, что критично для правильной эксплуатации устройств.

Целевая аудитория этого стандарта включает производителей полупроводниковых лазеров, лаборатории, проводящие исследования и испытания, а также контролирующие органы, ответственные за сертификацию и соблюдение безопасности. Понимание требований стандарта может значительно повысить безопасность и качество конечной продукции, а также упростить процесс сертификации новых устройств.

Практическое значение стандарта проявляется в повышении безопасности, улучшении качества производства и обеспечении совместимости различных лазерных устройств. Стандарт способствует формированию единого подхода к разработке и испытаниям полупроводниковых лазеров, что в конечном итоге положительно сказывается на экосистеме оптоэлектронных технологий. Любые изменения и дополнения, внесенные в dokument, ориентированы на уточнение методологических подходов и актуализацию характеристик, соответствующих новым технологическим требованиям.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-5-15-2022 Semiconductor devices - Part 5-15: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy Полупроводниковые устройства - Часть 5-15: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний напряжения плоского уровня на основе спектроскопии электроотражения PDF IEC 60747-5-13-2021 Semiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages Полупроводниковые устройства - Часть 5-13: Оптоэлектронные устройства - Тест на коррозию водородным сульфидом для корпусов светодиодов PDF IEC 60747-5-11-2019 Semiconductor devices - Part 5-11: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes Полупроводниковые устройства - Часть 5-11: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний радиационных и нерадиационных токов лазерных диодов PDF IEC 60747-5-8-2019 Semiconductor devices - Part 5-8: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of optoelectronic efficiencies of light emitting diodes Полупроводниковые устройства - Часть 5-8: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний оптоэлектронной эффективности лазерных диодов PDF IEC 60747-5-9-2019 Semiconductor devices - Part 5-9: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the temperature-dependent electroluminescence Полупроводниковые устройства - Часть 5-9: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний внутренней квантовой эффективности на основе температурно-зависимой электролюминесценции PDF BS IEC 60747-6-2016 Semiconductor devices Part 6: Discrete devices — Thyristors Полупроводниковые устройства Часть 6: Отдельные устройства — Тиратроны