495963325 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60747-5-11-2019 Semiconductor devices - Part 5-11: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes Полупроводниковые устройства - Часть 5-11: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний радиационных и нерадиационных токов лазерных диодов

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 60747-5-11-2019 Semiconductor devices - Part 5-11: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes Полупроводниковые устройства - Часть 5-11: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний радиационных и нерадиационных токов лазерных диодов
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60747-5-11-2019» описывает стандарты для полупроводниковых устройств, в частности, для оптоэлектронных приборов, таких как светодиоды. Основное назначение документа — установленное определение методов испытаний и оценки радиативных и нерадиативных токов светодиодов. Этот стандарт актуален для применения в производстве, научных исследованиях и тестировании светодиодов, обеспечивая единообразие в процессах тестирования.

Ключевыми аспектами, регламентируемыми стандартом, являются процедуры измерения параметров токов, а также требования к испытательным условиям, что включает в себя температурные диапазоны, влажность, и порядок подключения устройств. Стандарт определяет основную методологию для оценки эффективности и надежности светодиодов, обеспечивая четкие руководства для исследовательских и производственных лабораторий.

Важные технические детали, указанные в документе, включают требования к тестовому оборудованию и условиям испытаний, а также классификации изделий в зависимости от их применения и характеристик. Измеряемые величины компонентов должны соответствовать стандартизированным условиям, что позволяет обеспечить достоверность и сопоставимость результатов тестов.

Целевая аудитория данного стандарта охватывает производителей полупроводниковых устройств, лаборатории, которые занимаются проведением испытаний, а также контролирующие органы, отвечающие за безопасность и качество продукции. Такой документ служит основным руководством для всех заинтересованных сторон, гарантируя, что этапы тестирования выполняются согласно установленным нормам.

Практическое значение стандарта заключается в его способности повышать безопасность эксплуатации светодиодов, улучшать качество продукции и способствовать охране труда. Его применение помогает обеспечить совместимость различных устройств, что положительно сказывается на общей надежности функциональных систем. В новой редакции стандарта, также были учтены последние изменения в технологических процессах и новшества в оборудованиях для тестирования, что делает его актуальным для современных производств.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-5-10-2019 Semiconductor devices - Part 5-10: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference point Полупроводниковые устройства - Часть 5-10: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний внутренней квантовой эффективности на основе эталонной точки комнатной температуры PDF BS IEC 60747-4-2007 + A1-2017 PDF IEC 60747-3-2013 Semiconductor devices – Part 3: Discrete devices: Signal, switching and regulator diodes Полупроводниковые устройства – Часть 3: Дискретные устройства: Диоды сигналов, переключения и регулирования PDF IEC 60747-5-13-2021 Semiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages Полупроводниковые устройства - Часть 5-13: Оптоэлектронные устройства - Тест на коррозию водородным сульфидом для корпусов светодиодов PDF IEC 60747-5-15-2022 Semiconductor devices - Part 5-15: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy Полупроводниковые устройства - Часть 5-15: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний напряжения плоского уровня на основе спектроскопии электроотражения PDF BS IEC 60747-5-4-2022 Semiconductor devices Part 5-4: Optoelectronic devices - Semiconductor lasers Полупроводниковые устройства Часть 5-4: Оптоэлектронные устройства - Полупроводниковые лазеры