495963319 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60747-3-2013 Semiconductor devices – Part 3: Discrete devices: Signal, switching and regulator diodes Полупроводниковые устройства – Часть 3: Дискретные устройства: Диоды сигналов, переключения и регулирования

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 60747-3-2013 Semiconductor devices – Part 3: Discrete devices: Signal, switching and regulator diodes Полупроводниковые устройства – Часть 3: Дискретные устройства: Диоды сигналов, переключения и регулирования
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60747-3-2013 Semiconductor devices – Part 3: Discrete devices: Signal, switching and regulator diodes» предназначен для стандартизации характеристик и методов испытаний отдельностоящих полупроводниковых приборов, таких как сигнальные, переключающие и регулирующие диоды. Он направлен на повышение совместимости и безопасности изделий, обеспечивая единые требования для производителей и пользователей.

Ключевыми аспектами документа являются методы и параметры испытаний, которые обеспечивают надежность и долговечность диодов в различных условиях эксплуатации. В частности, регламентируются требования к электрическим и механическим характеристикам, а также к условиям испытаний, включая температурные режимы и влияние внешних факторов.

Документ включает важные технические детали, такие как классификация диодов в зависимости от их назначения и характеристик. Описываются измеряемые величины, что позволяет производителям и лабораториям эффективно оценивать параметры своих изделий и проводить необходимые тестирования согласно установленным стандартам.

Целевая аудитория этого стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, научно-исследовательские лаборатории и контролирующие органы, которые занимаются проверкой соответствия изделий заявленным характеристикам. Сложившаяся практика применения данного стандарта способствует установлению общего языка в отрасли и упрощает коммуникацию между различными участниками.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность и качество выпускаемой продукции. Стандарт способствует улучшению условий труда, гарантируя, что устройства соответствуют требованиям по безопасности и слаженно работают в различных условиях. Изменения и дополнения к предыдущим версиям учитывают новые технологические достижения и потребности рынка, что делает стандарты более актуальными и полезными для сектора.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-2-2016 Semiconductor devices - Part 2: Discrete devices - Rectifier diodes Полупроводниковые устройства - Часть 2: Дискретные устройства - Диоды выпрямления PDF BS IEC 60747-19-1-2019 Semiconductor devices Part 19-1: Smart sensors – Control scheme of smart sensors Полупроводниковые устройства Часть 19-1: Умные датчики – Схема управления умными датчиками PDF IEC 60747-18-3-2019 Semiconductor devices - Part 18-3: Semiconductor bio sensors - Fluid flow characteristics of lens-free CMOS photonic array sensor package modules with fluidic system Полупроводниковые устройства - Часть 18-3: Полупроводниковые биосенсоры - Характеристики потока жидкости для модулей без линз CMOS фотонных массивов датчиков с гидравлической системой PDF BS IEC 60747-4-2007 + A1-2017 PDF IEC 60747-5-10-2019 Semiconductor devices - Part 5-10: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference point Полупроводниковые устройства - Часть 5-10: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний внутренней квантовой эффективности на основе эталонной точки комнатной температуры PDF IEC 60747-5-11-2019 Semiconductor devices - Part 5-11: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes Полупроводниковые устройства - Часть 5-11: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний радиационных и нерадиационных токов лазерных диодов