495963321 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS IEC 60747-4-2007 + A1-2017

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
BS IEC 60747-4-2007 + A1-2017
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS IEC 60747-4-2007 + A1-2017» представляет собой стандарт, предназначенный для определения методов и требований, касающихся оптических свойств полупроводниковых приборов, используемых в электронном оборудовании. Он охватывает как основные параметры, так и процедуры, необходимые для надлежащего тестирования и оценки этих свойств в различных условиях эксплуатации. Основное назначение документа заключается в обеспечении совместимости и безопасности при использовании полупроводниковых устройств в электронной технике.

Ключевые регламентируемые аспекты включают методы измерения оптических характеристик, параметры испытаний, а также требования к оборудованию, используемому для проведения этих испытаний. Важным условием является соблюдение установленных значений для температурного диапазона и уровня напряжения, что критично для точности получаемых данных. Стандарт также описывает протоколы для классификации измеряемых величин, что позволяет проводить сопоставимые и достоверные исследования в различных лабораториях.

Целевая аудитория стандарта охватывает производителей полупроводниковых приборов, исследовательские лаборатории, а также контролирующие органы, которые осуществляют сертификацию и контроль качества. Важным аспектом является доступность информации для всех участников процесса, что способствует повышению качества продукции и услуг. Стандарт служит ориентиром для обеспечения высокого уровня безопасности и надежности в производстве электроники.

Практическое значение «BS IEC 60747-4-2007 + A1-2017» заключается в его влиянии на качество, безопасность и совместимость полупроводниковых устройств. Он способствует формированию высоких стандартов в области охраны труда и защиты окружающей среды, предостерегая от возможных негативных последствий, связанных с использованием не сертифицированных компонентов. Стандарт был обновлён с добавлением актуальных данных и изменений, направленных на улучшение методов испытаний и учета новых технологических достижений.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60747-3-2013 Semiconductor devices – Part 3: Discrete devices: Signal, switching and regulator diodes Полупроводниковые устройства – Часть 3: Дискретные устройства: Диоды сигналов, переключения и регулирования PDF IEC 60747-2-2016 Semiconductor devices - Part 2: Discrete devices - Rectifier diodes Полупроводниковые устройства - Часть 2: Дискретные устройства - Диоды выпрямления PDF BS IEC 60747-19-1-2019 Semiconductor devices Part 19-1: Smart sensors – Control scheme of smart sensors Полупроводниковые устройства Часть 19-1: Умные датчики – Схема управления умными датчиками PDF IEC 60747-5-10-2019 Semiconductor devices - Part 5-10: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference point Полупроводниковые устройства - Часть 5-10: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний внутренней квантовой эффективности на основе эталонной точки комнатной температуры PDF IEC 60747-5-11-2019 Semiconductor devices - Part 5-11: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes Полупроводниковые устройства - Часть 5-11: Оптоэлектронные устройства - Лазерные диоды - Метод испытаний радиационных и нерадиационных токов лазерных диодов PDF IEC 60747-5-13-2021 Semiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages Полупроводниковые устройства - Часть 5-13: Оптоэлектронные устройства - Тест на коррозию водородным сульфидом для корпусов светодиодов