495963605 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS IEC 62014-4-2015 IP-XACT, Standard Structure for Packaging, Integrating, and Reusing IP within Tool Flows Стандартная структура для упаковки, интеграции и переиспользования IP в потоках инструментов

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
BS IEC 62014-4-2015 IP-XACT, Standard Structure for Packaging, Integrating, and Reusing IP within Tool Flows Стандартная структура для упаковки, интеграции и переиспользования IP в потоках инструментов
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS IEC 62014-4-2015 IP-XACT, Standard Structure for Packaging, Integrating, and Reusing IP within Tool Flows» представляет собой стандарт, разработанный для унификации процессов упаковки, интеграции и повторного использования интеллектуальной собственности (IP) в инструментах проектирования. Он устанавливает четкие методологии и процедуры, необходимые для обеспечения совместимости и эффективного взаимодействия различных компонентов в проектных потоках.

Ключевыми аспектами стандарта являются методические подходы к описанию и спецификации IP, параметры для интеграции и повторного использования, а также требования к документированию. Стандарт включает рекомендации по структуре метаданных, описывающих функциональные характеристики IP-блоков, что позволяет упрощать процесс их использования и уменьшать вероятность ошибок при интеграции.

Среди технических деталей, регулируемых документом, можно выделить условия тестирования IP, классификации компонентов и измеряемые величины, которые необходимо учитывать в процессе разработки. Стандарт предоставляет специальные рекомендации по тестированию интегрированных систем, чтобы гарантировать их надёжность и соответствие заявленным характеристикам.

Целевая аудитория данного стандарта включает производителей полупроводниковых компонентов, исследовательские и проектные лаборатории, а также контролирующие органы, заинтересованные в соблюдении высоких стандартов качества и безопасности при разработке электронных систем. Важным аспектом является использование документа для повышения уровня понимания и взаимодействия между участниками проектных процессов.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость разрабатываемых систем. Стандарт обеспечивает основу для систематизации работы с IP, что положительно сказывается на производительности и снижает риски внедрения внедряемых решений. При наличии изменений или дополнений в стандарте они должны быть документированы и доступны для всех заинтересованных сторон, чтобы гарантировать актуальность и применимость стандартных методов.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 61988-4-2-2012 Plasma display panels – Part 4-2: Environmental testing methods – Panel strength Панели плазменных дисплеев – Часть 4-2: Методы экологических испытаний – Прочность панели PDF BS IEC 61988-4-1-2015 Plasma display panels Part 4-1: Environmental testing methods — Climatic and mechanical Панели плазменного дисплея Часть 4-1: Методы испытаний на воздействие окружающей среды — Климатические и механические PDF BS IEC 61988-2-6-2015 Plasma display panels Part 2-6: Measuring methods — APL dependent gamma and colour characteristics Панели плазменного дисплея Часть 2-6: Методы измерения — Гамма и цветовые характеристики, зависящие от APL PDF BS IEC 62014-5-2015 Quality of Electronic and Software Intellectual Property Used in System and System on Chip (SoC) Designs Качество электронных и программных интеллектуальных прав, используемых в системах и системах на кристалле (SoC) PDF IEC 62016-2003 Core model of the electronics domain Основная модель электронной области PDF IEC 62047-27-2017 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 27: Bond strength test for glass frit bonded structures using micro-chevrontests (MCT) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства Часть 27: Тест прочности соединения для структур, соединенных фритой стекла, с использованием микрочевронных тестов (МЧТ)