495963609 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 62016-2003 Core model of the electronics domain Основная модель электронной области

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
IEC 62016-2003 Core model of the electronics domain Основная модель электронной области
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 62016-2003 Core model of the electronics domain» разработан для определения ключевых аспектов и методов, относящихся к электронике. Он охватывает сферу применения стандартов, связанных с разработкой и применением электронных устройств и систем, обеспечивая универсальные принципы, которые могут быть использованы различными участниками отрасли.

Основное назначение документа заключается в регламентировании методов, параметров и требований, необходимых для обеспечения качества и надежности электронных изделий. Стандарт описывает процедуры тестирования и обеспечения совместимости, а также определяет принципы классификации различных электронных компонентов в зависимости от их функциональных характеристик.

Ключевые технические детали включают условия испытаний, специфические измеряемые величины и приборы, используемые в процессе. В документе также представлены классификации оборудования и материалов, что позволяет производить точные измерения и устанавливать требования для различных категорий продуктов электроники.

Целевая аудитория охватывает производителей, исследовательские лаборатории и контролирующие органы, которые осуществляют проверки соответствия. Стандарт является полезным инструментом для всех участников производственного процесса, так как он помогает гарантировать уровень качества и безопасности производимых изделий.

Практическое значение стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество и совместимость электронных систем. Он служит основой для создания безопасных и надежных изделий, что в свою очередь способствует улучшению охраны труда и защиты окружающей среды. В документе также учтены изменения, касающиеся новых технологий и методов, что делает его актуальным для современных условий рынка.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF BS IEC 62014-5-2015 Quality of Electronic and Software Intellectual Property Used in System and System on Chip (SoC) Designs Качество электронных и программных интеллектуальных прав, используемых в системах и системах на кристалле (SoC) PDF BS IEC 62014-4-2015 IP-XACT, Standard Structure for Packaging, Integrating, and Reusing IP within Tool Flows Стандартная структура для упаковки, интеграции и переиспользования IP в потоках инструментов PDF IEC 61988-4-2-2012 Plasma display panels – Part 4-2: Environmental testing methods – Panel strength Панели плазменных дисплеев – Часть 4-2: Методы экологических испытаний – Прочность панели PDF IEC 62047-27-2017 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 27: Bond strength test for glass frit bonded structures using micro-chevrontests (MCT) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства Часть 27: Тест прочности соединения для структур, соединенных фритой стекла, с использованием микрочевронных тестов (МЧТ) PDF IEC 62047-28-2017 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 28: Performance testing method of vibration-driven MEMS electret energy harvesting devices Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 28: Метод испытания характеристик вибрационных драйверов MEMS электретных устройств для сбора энергии PDF IEC 62047-29-2017 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 29: Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin films under room temperature Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 29: Метод испытания электромеханического расслабления для свободных проводящих тонких пленок при комнатной температуре