495963607 — ИНФОРМПРОЕКТ ГРУПП
Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

BS IEC 62014-5-2015 Quality of Electronic and Software Intellectual Property Used in System and System on Chip (SoC) Designs Качество электронных и программных интеллектуальных прав, используемых в системах и системах на кристалле (SoC)

Загрузка документа...

Доступ к полной версии документа ограничен

Название документа
BS IEC 62014-5-2015 Quality of Electronic and Software Intellectual Property Used in System and System on Chip (SoC) Designs Качество электронных и программных интеллектуальных прав, используемых в системах и системах на кристалле (SoC)
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «BS IEC 62014-5-2015» определяет стандарты качества для электронных и программных интеллектуальных продуктов, применяемых в системах и микросистемах на кристалле (SoC). Он служит руководством для участников разработок, обеспечивая соблюдение высоких стандартов качества и надежности в проектировании и производстве, что способствует улучшению конечного продукта.

Основными аспектами, регламентируемыми документом, являются методы оценки качества, параметры, которые подлежат измерению, и требования к процессам разработки и тестирования. Включение подробных процедур и параметров испытаний позволяет обеспечить единообразие в подходах к оценке качества, что критически важно для поддержания стандартов в области высоких технологий.

Документ также описывает важные технические детали, такие как условия испытаний, классификации применяемых технологий и измеряемые величины. Это дает возможность разработчикам понимать специфику тестирования и обеспечивать соответствие установленным критериям, что, в свою очередь, влияет на безопасность и производительность конечных изделий.

Целевой аудиторией стандарта являются производители электронных компонентов, исследовательские лаборатории и контролирующие органы, которые занимаются соблюдением требований качества в области электроники. Стандарт позволит этим участникам рынка эффективно взаимодействовать и обмениваться информацией, что является важным для повышения уровня доверия и качества продукции.

Практическое значение данного стандарта заключается в его влиянии на безопасность, качество, охрану труда и совместимость современных изделий. Создание условий для соблюдения высоких стандартов приведет к снижению рисков, связанных с производственными дефектами, и повысит общую эффективность процессов разработки. Изменения и дополнения к стандарту сохраняют актуальность в условиях быстро развивающейся технологической среды, что позволяет следовать современным требованиям и тенденциям.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF BS IEC 62014-4-2015 IP-XACT, Standard Structure for Packaging, Integrating, and Reusing IP within Tool Flows Стандартная структура для упаковки, интеграции и переиспользования IP в потоках инструментов PDF IEC 61988-4-2-2012 Plasma display panels – Part 4-2: Environmental testing methods – Panel strength Панели плазменных дисплеев – Часть 4-2: Методы экологических испытаний – Прочность панели PDF BS IEC 61988-4-1-2015 Plasma display panels Part 4-1: Environmental testing methods — Climatic and mechanical Панели плазменного дисплея Часть 4-1: Методы испытаний на воздействие окружающей среды — Климатические и механические PDF IEC 62016-2003 Core model of the electronics domain Основная модель электронной области PDF IEC 62047-27-2017 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 27: Bond strength test for glass frit bonded structures using micro-chevrontests (MCT) Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства Часть 27: Тест прочности соединения для структур, соединенных фритой стекла, с использованием микрочевронных тестов (МЧТ) PDF IEC 62047-28-2017 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 28: Performance testing method of vibration-driven MEMS electret energy harvesting devices Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 28: Метод испытания характеристик вибрационных драйверов MEMS электретных устройств для сбора энергии