Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
IEC 60749-24-2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
Документ «IEC 60749-24-2004» описывает методы механических и климатических испытаний полупроводниковых устройств, сосредотачиваясь на ускоренной оценки их влажностной стойкости в условиях без напряжения. Основное назначение стандарта — предусмотреть необходимые требования и процедуры для проверки надежности полупроводниковых компонентов в условиях повышенной влажности, что является важным аспектом их эксплуатации.
Стандарт регламентирует методы проведения испытаний, включая параметры, такие как температура, уровень влажности и продолжительность воздействия. Включены специфические требования к тестовым образцам, а также к оборудованию, используемому для испытаний, что обеспечивает воспроизводимость и высокую точность результатов.
Технические детали испытаний включают условия проведения HAST (Highly Accelerated Stress Test), которые предполагают использование управляемых климатических камер, способных поддерживать повышенные температуры и влажности. Измеряемые величины охватывают изменение электрических характеристик и физического состояния полупроводниковых компонентов, что позволяет оценить их надежность и долговечность.
Целевой аудиторией данного стандарта являются производители полупроводниковых устройств, лаборатории, занимающиеся испытаниями и сертификацией, а также контролирующие органы, занимающиеся обеспечением безопасности и качества в области электроники. Стандарт служит важным инструментом для повышения доверия к продукции за счет обеспечения соответствия требованиям к качеству и безопасности.
Практическое значение стандарта охватывает его влияние на безопасность и качество полупроводниковых изделий, что, в свою очередь, укрепляет охрану труда и совместимость между различными устройствами. С момента его публикации могут быть внесены изменения для уточнения методов испытаний или добавления новых критериев оценки, что повышает актуальность и практическую значимость данных методов в современных условиях.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
IEC 60749-23-2011 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 23: High temperature operating life
IEC 60749-22-2002 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 22: Bond strength
IEC 60749-22-2002 Cor1-2003
IEC 60749-25-2003 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 25: Temperature cycling
IEC 60749-26-2018 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
IEC 60749-27-2012 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing – Machine model (MM)