Картотека документов

Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации

IEC 60749-27-2012 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing – Machine model (MM) Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 27: Испытания на чувствительность к статическому электричеству (ESD) – Модель машины (MM)

Название документа
IEC 60749-27-2012 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing – Machine model (MM) Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 27: Испытания на чувствительность к статическому электричеству (ESD) – Модель машины (MM)
Вид документа
Принявший орган
Статус
Скрыто
Дата принятия
Скрыто
Дата начала действия
Скрыто

Документ «IEC 60749-27-2012» устанавливает требования и методы испытаний на чувствительность полупроводниковых устройств к электрическим разрядам (ESD) с использованием модели машины. Основное назначение этого стандарта заключается в обеспечении согласованности и воспроизводимости испытаний на ESD, что позволяет оценить надежность полупроводниковых компонентов в условиях воздействия статического электричества.

Стандарт охватывает методы испытаний, параметры и процедуры, которые необходимо учитывать при проведении испытаний на чувствительность к ESD. Ключевыми аспектами являются определение условий испытаний, таких как используемая машинная модель, уровни напряжения и нагрузка, а также спецификация требований, касающихся минимальных показателей допустимой надежности.

Важными техническими деталями являются условия испытаний, такие как температура и влажность, которые могут существенно влиять на результаты. Классификации компонентов по их чувствительности к ESD также являются значительным аспектом, так как позволяют производителям и лабораториям правильно оценивать риски и выбирать соответствующие меры защиты.

Целевая аудитория документа включает производителей полупроводниковых устройств, испытательные лаборатории, а также контролирующие органы, заинтересованные в стандартизации и контроле за качеством. Данный стандарт предоставляет четкие рекомендации, которые обеспечивают безопасность и надежность при работе с полупроводниковыми материалами.

Практическое значение стандарта проявляется в его влиянии на безопасность, качество и совместимость полупроводниковых устройств. Он способствует снижению количества отказов и увеличению срока службы оборудования, что является критичным для многих промышленных применений. В тексте документа также указаны изменения и дополнения, касающиеся актуализации методов испытаний и уточнения требований.

Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.

Чтобы получить полный доступ к этому и другим документам, приобретайте доступ к Информационной сети «Техэксперт» - лидеру в области комплексного обеспечения предприятий нормативно-технической документацией.

Нормативно-техническая документация (ГОСТ, СНиП, ГН, Р, ГЭСН и др.)
Нормативно-правовые акты органов государственной власти (законы, законопроекты, постановления)
Технологическая документация (чертежи, схемы и др.)
Аналитические материалы
Классификаторы и словари
Справочная информация
Все документы и информация о них
доступны в системах «Техэксперт» и «Кодекс»

Возможно вас заинтересуют

PDF IEC 60749-26-2018 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 26: Испытания на чувствительность к статическому электрическому разряду (ESD) - Модель человеческого тела (HBM) PDF IEC 60749-25-2003 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 25: Temperature cycling Полупроводниковые устройства Методы механических и климатических испытаний Часть 25: Циклические испытания на температуру PDF IEC 60749-24-2004 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 24: Ускоренные испытания на устойчивость к влаге - Неисправленный HAST PDF IEC 60749-28-2022 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level Полупроводниковые устройства - Методы механических и климатических испытаний - Часть 28: Испытания на чувствительность к статическому электричеству (ESD) - Модель заряженного устройства (CDM) - уровень устройства PDF IEC 60749-29-2011 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 29: Latch-up test Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 29: Тестирование на захват PDF IEC 60749-3-2017 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 3: External visual examination Полупроводниковые устройства – Методы механических и климатических испытаний – Часть 3: Внешний визуальный осмотр