Электронный фонд правовой
и нормативно-технической документации
IEC 60749-28-2022 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
Документ «IEC 60749-28-2022» устанавливает методы испытаний на чувствительность к электростатическому разряду (ESD) для полупроводниковых устройств с использованием модели заряженного устройства (CDM) на уровне устройства. Основное его назначение — помочь производителям и лабораториям проводить стандартизированные испытания для оценки надежности и устойчивости полупроводниковых компонентов к электростатическим воздействиям.
В документе регламентируются ключевые аспекты, включая методы испытаний, параметры, требования и процедуры, необходимые для проведения тестов на ESD. Определены условия испытаний, такие как температура и влажность, а также специфические электрические параметры, включая напряжение и ток, используемые при тестировании. Классификации устройств и критерии их оценки также описаны, чтобы гарантировать последовательность и сопоставимость результатов между различными лабораториями.
Основными измеряемыми величинами являются параметры, характеризующие устойчивость устройства к электростатическим разрядам, что позволяет оценить вероятность повреждения или деградации функционирования полупроводниковых компонентов. Документ также рассматривает различные уровни чувствительности, что позволяет производителям сосредоточиться на наиболее критических аспектах при проектировании и испытаниях своих изделий.
Целевая аудитория стандарта включает производителей полупроводниковых устройств, исследовательские и испытательные лаборатории, а также организации, занимающиеся контролем качества и стандартизацией. Понимание принципов и требований, изложенных в стандарте, критически важно для обеспечения соответствия продукции международным требованиям и стандартам безопасности.
Практическое значение стандарта связано с его влиянием на обеспечение качества, безопасности и совместимости полупроводниковых устройств в различных электронных системах. Соблюдение стандартов ESD позволяет минимизировать риски производственных дефектов и отказов в работе устройств, тем самым повышение надежности оборудования и безопасности его использования. В документе учтены изменения и дополнения, касающиеся обновленных методов испытаний и повышенных требований к параметрам ESD, что подчеркивает актуальность и важность стандарта в быстро развивающемся мире полупроводников.
Описание документа носит справочный характер, достоверность этого материала не гарантируется.
Скачать документ нельзя. Вы можете заказать документ.
Международные и зарубежные стандарты (ASTM, ISO, ASME, API, DIN, BS и др.) не предоставляются в рамках данной услуги. Каждый стандарт приобретается платно с учетом лицензионной политики Разработчика.
Любые авторские документы, размещенные на сайте, представлены в соответствии с признанным в международной практике принципом «как есть». ООО «Информпроект Групп» не несет ответственности за правильность информации, изложенной в авторских документах.
Возможно вас заинтересуют
IEC 60749-27-2012 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing – Machine model (MM)
IEC 60749-26-2018 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
IEC 60749-25-2003 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 25: Temperature cycling
IEC 60749-29-2011 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 29: Latch-up test
IEC 60749-3-2017 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 3: External visual examination
IEC 60749-30-2020 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing